System pomiarowy spektroskopii impedancyjnej do diagnostyki obiektów technicznych

• Autorzy: Hoja J. , Lentka G.

Warianty tytułu

EN

Impedance spectroscopy measurement system for technical objects diagnostics

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono system pomiarowy ukierunkowany na testowanie i diagnostykę obiektów elektronicznych i nieelektrycznych. Charakterystyczną cechą systemu jest wyposażenie w bibliotekę metod spektroskopii impedancyjnej umożliwiających identyfikację elementów niedostępnych zaciskowo. Omówiono architekturę systemu, podstawy teoretyczne metod wyznaczania widma impedancji oraz przedstawiono wyniki weryfikacji praktycznej metod na przykładzie dwójnika czteroelementowego RC.

EN

The paper presents measurement system aimed to testing and diagnostics of electronic and non-electrical objects. The system is equipped with library of impedance spectroscopy methods allowing to identify components not available from terminals. Architecture of the system was described as well as theoretical basis of the impedance spectrum determination methods. The results of experimental verification were presented on 4-element two-terminal RC network example.

Słowa kluczowe

PL

spektroskopia impedancyjna; pomiary impedancji; diagnostyka obiektów technicznych; identyfikacja parametryczna; elektrotechnika; elektroenergetyka

EN

impedance spectroscopy; impedance measurement; technical objects diagnostics; parametric identification; electrical technology; electrical power engineering

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 87, nr 10
• Strony: 204--207
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., il., tabl., wykr.

Twórcy

autor

Hoja J.

autor

Lentka G.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk,

Bibliografia

• [1] Barsoukov E., Macdonald J.R., Impedance Spectroscopy: Theory, Experiment and Applications, J.Wiley&Sons, (2005)
• [2] Hoja J., Lentka G., Sposób i układ do spektroskopii impedancyjnej powłok antykorozyjnych, Zgłoszenie patentowe nr P 387536 z dnia 18.03.2009
• [3] Betta G., Liguori C., Pietrosanto A., Uncertainty Analysis in Fast Fourier Transform Algorithms, Proc. Of 10-th International Symposium on Development in Digital Measuring Instrumentation, IMEKO’98, vol. 2 Neapol, (1998), 747-752
• [4] Hoja J., Lentka G., Fast impedance spectroscopy method using square pulse excitation, Proc. of 12th IMEKO TC1 & TC7 Joint Symposium on Man Science & Measurement, Annecy, France, (2008), 197-202
• [5] Bordziłowski J., Darowicki K., Krakowiak S., Królikowska A., , Impedance measurements of coating properties on bridge structures, Progress in Organic Coatings, 46, (2003), 216-219
• [6] Macdonald J .R. , LEVM Manual ver.7.11. CNLS Immittance Fitting Program. Solartron Group Limited (1999)