Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych

• Autorzy: Czaja Z. , Kowalewski M. , Zielonko R.

Warianty tytułu

EN

Usage of Two-Center Basis function classifier for analog parts faults diagnosis of electronic embedded systems

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie filtru dolnoprzepustowego 3-go rzędu.

EN

The aim of the paper is usage of the classifier with Two-Center Basis Functions for detection and localization of faults in electronic embedded systems controlled with microcontrollers. Details of measurement and diagnosis procedures with use of the TCB classifier implemented in the microcontroller’s program code were presented. Construction and a method of obtaining of parameters the TCB classifier on the exemplary 3th order filter were presented.

Słowa kluczowe

PL

klasyfikatory neuronowe; mikrokontrolery; układy analogowe; elektrotechnika; elektroenergetyka

EN

neural classifiers; microcontrollers; analog circuits; electrical technology; electrical power engineering

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 87, nr 10
• Strony: 184--187
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., il., tabl., wykr.

Twórcy

autor

Czaja Z.

autor

Kowalewski M.

autor

Zielonko R.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk,

Bibliografia

• [1] Czaja Z., A simple fault diagnosis method for analog parts of electronic embedded systems, Proceedings of the XIX IMEKO World Congress, Lisbon, Portugal, (2009), 763-768
• [2] Czaja Z., A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances, Measurement, 42, (2009), 903-915
• [3] Czaja Z. , Zielonko R., Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces, Trans. on Instr. and Measurement, vol. 52, n? 1, (2003), 97-102
• [4] Yang Z. R., Zwolinski M., Applying a robust heteroscedastic probabilistic neural network to analog fault detection and classification, IEEE Trans. CAD IC&S, vol. 19, (2000), 142-151
• [5] Toc zek W. , Kowalews ki M., A neural network based system for soft faults diagnosis in electronic circuits, Metrology and Measurements Systems, vol. 12, n? 4, (2005), 463-474
• [6] Kowalews ki M., Two-center radial basis function network for classification of soft faults in electronic analog circuits, In proc. of the IMTC’2007 Conference, Warsaw, Poland, (2007)
• [7] Kowalews ki M. , Zielonko R., The New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits, International IEEE Conference on Information Technology, Gdańsk, Zesz. Nauk. Wydz. ETI PG, Tom 18, (2010), 267-272
• [8] Bartosinski B., Zielonko R., New Classes of Complementary Signals, Electronics Letters, vol. 23, n? 9, (1987), 433-434
• [9] Zaleski D. , Zielonko R. , Bartosins k i B., Application of Complementary Signals in Built-In Self Testers for Mixed- Signal Embedded Electronic Systems, Trans. on Instr. and Measurement, vol. 59, n? 2, (2010), 345-352