A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space

• Autorzy: Jantos P. , Golonek T. , Rutkowski J.

Warianty tytułu

PL

Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono metodę sterowanego specyfikacją testowania analogowych układów elektronicznych. Opracowana metoda bazuje na wykorzystaniu cech odpowiedzi układu na wymuszenie testujące. W przestrzeniach zdefiniowanych przez wartości poszczególnych cech odpowiedzi testowanego układu oraz kolejne specyfikacje, znajdowana jest aproksymacja dystrybucji wartości specyfikacji z wykorzystaniem triangulacji Delaunay’a. Tak przygotowane „mapy” działania układu stosowane są do estymacji wartości specyfikacji, a następnie, za pomocą klasyfikatora neuronowego, do stwierdzenia, czy układ testowany jest sprawny.

EN

This paper presents a method for specification driven testing of analogue electronic circuits. The method is based on utilisation of tested circuit response features to a test stimulus. Delaunay’s triangulation is employed for the purpose of finding tested circuit specifications values in spaces defined with response features. Specification maps are used for the purpose of estimating the tested circuits performance quality. A neural network classifier has been utilised to make a decision whether the circuit is fully functional.

Słowa kluczowe

PL

triangulacja Delaunaya; testowanie funkcjonalne; analogowy układ elektroniczny; sztuczna sieć neuronowa; elektrotechnika; elektroenergetyka

EN

Delaunay's triangulation; specification driven test; analogue electronic circuits; neural classifier; electrical technology; electrical power engineering

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 87, nr 10
• Strony: 110--113
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz., il., tabl., wykr.

Twórcy

autor

Jantos P.

autor

Golonek T.

autor

Rutkowski J.

• Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, ul. Akademicka 16, 44-100 Gliwice,

Bibliografia

• [1] Milor L. S, A Tutorial Introduction to Research of Analog and Mixed-Signal Circuit Testing, IEEE Trans. on Cir. and Syst. - II, Analog and Dig. Sig. Process., vol. 45, (1998), issue 10, 1389- 1407
• [2] Kaminska B., Arabi K., I. Bell, et al., Analog and Mixed-Signal Benchmark Circuits - First Release, IEEE International Test Conference, (1997), 183-190
• [3] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J., Analog IC Fault Diagnosis by Means of Supply Current Monitor-ing in Test PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY (Electrical Review), ISSN 0033-2097, R. 87 NR 10/2011 113 Points Selected Evolutionarily, ICSES‘10, (2010), 397-400
• [4] Jantos P., Grzechca D., Rutkowski J., Faults Identification in Analogue Electronic Circuits, Metrology and Measurement Systems, vol. XVI, no. 3/2009, 391-402
• [5] Jantos P., Grzechca D., Rutkowski J., An analogue electronic circuits diagnosis with the use of evolutionary algorithms, ICSES‘10, (2010), 289-292
• [6] Chakrabarti S., Chatterjee A., Compact Fault Dictionary Construction for Efficient Isolation of Faults in Analog and Mixed-Signal Circuits, 20th Anniversary Conference on Advanced Research in VLSI, 327-341
• [7] Cherubal S., Chatterjee A., Test generation based diagnosis of device parameters for analog circuits, Design Automation and Test in Europe, (2001), 596-602
• [8] Tadeusiewicz M., Sidyk P., Hałgas S., A method for multiple fault diagnosis in analogue circuits, Proc. European Conference on Circuit Theory and Design, (2007), 834-837
• [9] Czaja Z., Zielonko R., On fault diagnosis of analogue electronic circuits based on transformations in multidimensional spaces, Measurement, 35 (3), (2004), 293-301
• [10] de Berg M., Cheong O., van Kreveld M., Overmars M., Computational Geometry - Algorithms and Applications, Springer, 2008
• [11] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J., Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego, Przegląd Elektrotechniczny, 85 (2009), nr 11,135-138
• [12] Arbib M.A., The Handbook of Brain Theory and NeuralNetworks, The MIT Press, 2003
• [13] Freeman J.A., Skapura D.M., Neural Networks: Algorithms,Applications and Programming Techniques, Addison-WesleyPublishing Company, 1991
• [14] Haykin S., Neural Networks: A comprehensive foundation,Pearson Education, 1999
• [15] Kasabov N.K., Foundation of Neural Networks, Fuzzy Systemsand Knowledge Engineering, The MIT Press, 1998