PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Electrothermal Model of SiC Power Schottky Diodes

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
Model elektrotermiczny diod Schottky'ego mocy wykonanych z węglika krzemu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
The paper concerns the problem of modelling d.c. characteristics of commercial SiC power Schottky diodes with self-heating taken into account. The electrothermal model of the investigated devices is proposed and experimentally verified. The evaluation of accuracy of the elaborated model has been performed by comparison of measured and calculated characteristics of selected SiC power Schottky diodes.
PL
Praca dotyczy problemu modelowania, z uwzględnieniem zjawiska samonagrzewania, prądowo-napięciowych charakterystyk komercyjnie dostępnych diod Schottky’ego mocy wykonanych z węglika krzemu. Zaproponowano i eksperymentalnie zweryfikowano elektrotermiczny model rozważanych w pracy elementów półprzewodnikowych. Ocenę dokładności modelu przeprowadzono poprzez porównanie charakterystyk obliczonych w programie SPICE z charakterystykami zmierzonymi wybranych diod Schottky’ego z węglika krzemu.
Rocznik
Strony
33--38
Opis fizyczny
Bibliogr. 23 poz., il., tabl., wykr.
Twórcy
autor
  • Gdynia Maritime University, Department of Marine Electronics, 81-225 Gdynia, ul. Morska 83
Bibliografia
  • [1] Benda, V.; Gowar, J.; Grant, D.A.: Power Semiconductor Devices – Theory and Applications. John Wiley & Sons Ltd., 1999.
  • [2] Zverev, I.; Treu, M.; Kapels, H.; Hellmund, O.; Rupp, R.: SiC Schottky Rectifiers: Performance, Reliability and Key Applications. EPE Conf. Proc., Graz, August 2001.
  • [3] http://www.cree.com/products/power_docs.htm.
  • [4] Zarębski, J.: Modelling, Simulations and Measurements of Electrothermal Course in Semiconductor Devices and Electronic Circuits (in Polish). Maritime Academy in Gdynia, Poland, 1996.
  • [5] Stepowicz, W.J.: Unified Approach to Breakdown Phenomena in Silicon P-N Junction. Solid-State Electronics, Vol. 22, No. 1- B, 1979, pp. 15-19.
  • [6] Hefner, A.R.; Blackburn D.L.: Simulating the Dynamic Electrothermal Behavior of Power Electronic Circuits and Systems. IEEE Transactions on Power Electronics, Vol. 8, No. 4, October 1993, pp. 376-385.
  • [7] PSpice Reference Guide, Product Version 10.0, June 2003, pp. 146-151.
  • [8] Shur, M.: Introduction to Electronic Devices. John Wiley & Sons, Inc., 1996.
  • [9] http://www.analogy.com/Tools/SLD/Mechatronics/Saber/Pages/ CapModeling.aspx.
  • [10] Kolessar, R.; Nee, H.P.: An Experimentally Validated Electrothermal Compact Model for 4H-SiC Power Diodes. ISIE Proc., Pusan-Korea, June 2001, pp. 1345-1350.
  • [11] McNutt, T.; Hefner, A.; Mantooth, A.; Duliere, J.; Berning, D.; Singh, R.: Silicon Carbide PiN and Merged PiN Schottky Power Diode Models Implemented in the Saber Circuit Simulator. PESC Proc., Vol. 4, 2001, pp. 2103-2108.
  • [12] Hernandez, L.; Claudio-Sanchez, A.; Cotorogea, M.; Aguayo, J.; Rodriguez, M.A.: 4H-SiC PiN Diode Electrothermal Model for Conduction and Reverse Breakdown for Pspice Simulator. CIEP Proc., Morelos, August 2008, pp. 192-197.
  • [13] Zhu, L.; Chow, T.P.: Analytical Modeling of High-voltage 4HSiC Junction Barrier Schottky (JBS) Rectifiers. IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 55, No. 8, August 2008, pp. 1857-1863.
  • [14] Tayel, M.B.; El-Shawarby, A.M.: A Self-consistent Modeling of 4H-SiC Schottky Barrier Diodes. IWPSD Proc., December 2007, pp. 138-141.
  • [15] Zhang, H.; Tolbert, L.M.; Ozpineci, B.: System Modeling and Characterization of SiC Schottky Power Diodes. IEEE COMPEL Proc., NY, USA, July 2006, pp. 199-204.
  • [16] http://www.cree.com: CPWR-PSPICE Rev-A.zip/CREE Schottky.lib – parameters values library of the SPICE built-in diode model.
  • [17] http://www.infineon.com: Psice_SiC_L3_2.zip.
  • [18] Zarębski, J.; Dąbrowski, J.; Bisewski, D.: The Analysis of Temperature Influence on Switching Behaviour of the Power Schottky Diodes (in Polish). Electronics, No. 2, 2007, pp. 18- 20.
  • [19] Zarębski, J.; Dąbrowski J.: D.C. Characteristics of SiC Power Schottky Diodes Modelling in SPICE. Informacije MIDEM, Vol. 36, No. 3, September 2006, pp. 123-126.
  • [20] Zarębski J.; Dąbrowski J.: Non-isothermal Characteristics of SiC Power Schottky Diodes. International Symposium on Power Electronics, Electrical Drives, Automation and Motion SPEEDAM 2008, June, Italy, pp. 1363-1367.
  • [21] Sze, S.M.: Physics of Semiconductor Devices. John Wiley & Sons, Inc., 1996.
  • [22] Dąbrowski, J.: Modelling of Power Schottky Diodes with Thermal Effects Taken into Account (in Polish). Doctor’s thesis, Technical University of Lodz, Poland, 2007.
  • [23] http://www.infineon.com/cms/en/product.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-PWA7-0052-0005
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.