Miernik elementów RLC na bazie układu "programmable System On a Chip

• Autorzy: Lentka G. , Michalkiewicz M.

Warianty tytułu

EN

LCR meter based on "System on a Chip" circuit

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu "programmable System On a Chip" firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fourier'a pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re i Im mierzonej impedancji, a następnie wartości elementów RLC przy założonym modelu impedancji.

EN

The paper presents impedance parameters meter based on "programmable System On a Chip" integrated circuit by Cypress. The chip contains microprocessor as well as reprogrammable analog and digital blocks. The CY8C26443 was used in the prototype device. The method based on discrete Fourier transform was used allowing to determine Re and Im parts of the measured impedance on the basis of acquired samples of voltage and current signals. Using simple model, values of LCR components are calculated.

Słowa kluczowe

PL

pomiar RLC; pomiary impedancji; programmable System on a Chip (pSoC); transformacja Fouriera dyskretna; elektrotechnika

EN

LCR measurement; impedance measurement; programmable System on a Chip; pSoC; discrete Fourier transform; electrical engineering; electrotechnics

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 87, nr 9a
• Strony: 151--154
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Lentka G.

autor

Michalkiewicz M.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk,

Bibliografia

• [1] Agilent Technologies Impedance Measurement Handbook, July 2006.
• [2] Agilent 8 Hints for Successful Impedance Measurements, Application Note 346-4.
• [3] Hoja J., Lentka G., Zielonko R., Measurement microsystem for high impedance spectroscopy of anticorrosion coatings, Metrology and measurement systems, Vol. IX No 1/2002.
• [4] Smith S. W., The Scientist and Engineer’s Guide to Digital Signal Processing, Second Edition.
• [5] Lyons R. G., Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygna"ów, WK' 1999.
• [6] Cypress Datasheet: PSoC Configurable Mixed-Signal Array with On-board Controler CY8C26443, Cypress Semiconductor Corporation 2003.
• [7] HEF4051B – 8-channel analogue multiplexer/demultiplekser, Philips 1995
• [8] PSoC Designer: Integrated Development Environment User Guide, Cypress Semiconductor Corporation 2003
• [9] Caldara S., Nuccio S., Spataro C., Measurement Uncertainty Estimation of a Virtual Instrument, Instrumentation and Measurement Techn. Conf., IMTC 2000. vol.3, pp 1506-1511