Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym

• Autorzy: Czaja Z.

Warianty tytułu

EN

Implementation of a fault diagnosis method basing on multisampling of time response in a mixed-signal electronic microsystem

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono nową metodę samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.

EN

A new self-testing method of analog parts terminated by ADCs in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers is presented. It bases on a new fault diagnosis method basing on transformation of voltage samples of the time response of a tested part on a square impulse into identification curves placed in a measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization.

Słowa kluczowe

PL

lokalizacja uszkodzeń; mikrokontrolery; układy analogowe; elektrotechnika

EN

fault localization; microcontrollers; analog circuits; electrical engineering; electrotechnics

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 87, nr 9a
• Strony: 33--36
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Czaja Z.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk,

Bibliografia

• [1] Zhao F. , Kout soukos X. , Haussec ker H. , Rei ch J. , Cheung P., Monitoring and fault diagnosis of hybrid systems, IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics - Part B: Cybernetics, 35, (2005), 1214- 1219
• [2] Scot tow R. G. , Hopkins A. B. T., Instrumentation of real-time embedded system for performance analysis, IEEE Instrumentation and Measurement Conference, IMTC/06, Sorrento, Italy, (2006), 1307-1310
• [3] Changhyun B., Seungkyu P., Kyunghee C., [similar to] TEST: An effective automation tool for testing embedded software, WSEAS Transactions on Information Science and Applications, 2, (2005), 1214-1219
• [4] Souza C. P. , Assis F. M. , Freire R. C. S., Mixed test pattern generation using single parallel LFSR, IEEE Instrumentation and Measurement Conference, IMTC/06, Sorrento, Italy, (2006), 1114-1118
• [5] Atmel Corporat ion, 8-bit AVR microcontroller with 16k Bytes In-System Programmable Flash, ATmega16, ATmega16L, (2006), PDF file available from: www.atmel.com.
• [6] Microchip Technology Inc., Dual Channel 12-Bit A/D Converter with SPI Serial Interface (MCP3202), plik PDF (2006)
• [7] Czaja Z., A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers, Measurement, 40, (2007), 158-170
• [8] Czaja Z., A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances, Measurement, 42, (2009), 903-915
• [9] Liu R., Testing and diagnosis of analog circuits and systems, Van Nostrand Reinhold, USA, New York, (1991)
• [10] Watkinson J ., The art of digital audio, Third Edition, Elsevier, (2001)