Multilayer transducer for impulse eddy current testing system

• Autorzy: Chady T. , Frankowski P.

Warianty tytułu

PL

Przetwornik wielowarstwowy przeznaczony do impulsowego systemu wiroprądowego

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

This paper presents a new electromagnetic Printed Circuit Board (PCB) transducer, which is powered from the Impulse Eddy Current (IEC) system. The PCB transducer has been designed for identification of defects located in the thin test specimen made of Inconel, which is widely used in chemical, nuclear and aerospace industry.

PL

Artykuł prezentuje nowy elektromagnetyczny przetwornik wykonany w postaci obwodów drukowanych (PCB), który jest zasilany z impulsowego systemu wiroprądowego. Przetwornik PCB zaprojektowano w celu identyfikacji wad znajdujących się w cienkich płytach z Inconelu powszechnie stosowanych w przemyśle chemicznym, jądrowym i lotniczym.

Słowa kluczowe

EN

nondestructive testing; eddy currents; multilayer transducer; pulse generation; electrical technology

PL

badania nieniszczące; prądy wirowe; przetwornik wielowarstwowy; generowanie impulsu; elektrotechnika

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 87, nr 8
• Strony: 236--238
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Chady T.

autor

Frankowski P.

• West Pomeranian University of Technology in Szczecin, Electrical an Computer Engineering Department, ul. Sikorskiego 37, 70-313 Szczecin,

Bibliografia

• [1] Young-Kil S., Dong-Myung C., Hee-Sung J., Tae-Gum U., Performance Evaluation of Several Types of Pulsed Eddy Current Probes for Detecting Wall Thickness Reduction, Review of Quantitative Nondestructive Evaluation, Eds. D. O. Thompson, D. E. Chimenti, American Institute of Physics, vol. 29 (2010), 393-400
• [2] Chady T., Łopato P, Flaws Identification Using an Approximation Function and Artificial Neural Networks, IEEE Transactions on Magnetics, vol. 43 (2007), 1769-1772
• [3] Pavo J., Numerical Calculation Method for Pulsed Eddy- Current Testing”, IEEE Transactions on Magnetics, vol. 38 (2002), 1169-1172
• [4] Cadeau T., Krause T. W., Pulsed Eddy Current Probe Design Based on Transient Circuit Analysis, Review of Quantitative Nondestructive Evaluation, Eds. D. O. Thompson, D. E. Chimenti, American Institute of Physics, vol. 28 (2009), 327- 334
• [5] Chady T., Frankowski P., Extremely Short Impulse Eddy Current System for Titanium and Inconel Samples Testing, QNDE 2010 – Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation, (July 18-23, 2010), San Diego, California
• [6] Yu-Jung C., Ki H. K., Jong-Sik S., Young H. K., Jongryoul K., Surface Flaws Detection Using AC Magnetic Field Sensing by a Thin Film Inductive Microsensor, IEEE Transactions on Magnetics, vol. 44 (2008), 4022-4025