PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Ekstensometria optyczna z wykorzystaniem interferometrii siatkowej ze sprzężonymi rzędami dyfrakcyjnymi

Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Optical extensometry based on grating interferometry with conjugate diffraction orders
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Rosnące wymagania dotyczące niezawodności oraz bezpieczeństwa eksploatacji różnego rodzaju obiektów technicznych wymuszają rozwój metod i urządzeń służących do pomiarów przemieszczeń i odkształceń elementów konstrukcji zarówno na etapie ich projektowania, wytwarzania, jak i użytkowania. Wychodząc naprzeciw tym wymaganiom, w pracy przedstawiono, opracowaną przez autora, nową rodzinę zautomatyzowanych ekstensometrów interferencyjnych z wykorzystaniem interferometrii siatkowej ze sprzężonymi rzędami dyfrakcyjnymi. W pierwszej części omówione zostały podstawy teoretyczne interferometrii siatkowej oraz przykłady istniejących interferometrów. Szczególną uwagę zwrócono na opis interferometrów z głowicą trójzwierciadlaną oraz siatkową. Następnie przedstawiono modyfikacje laboratoryjnego interferometru siatkowego LIS wraz z elementami szacowania niepewności pomiaru. Na przykładzie badania różnego typu złącz pokazano możliwości wykorzystania LIS w optonumerycznych hybrydowych metodach badań. W drugiej części pracy zostały zaprezentowane, opracowane przez autora, nowe laserowe ekstensometry interferencyjne: zautomatyzowany laserowy ekstensometr siatkowy LES oraz rodzina falowodowych mikroekstensometrów siatkowych FaMiS. Ekstensometr LES jest w pełni zautomatyzowanym urządzeniem umożliwiającym prowadzenie pomiarów bezpośrednio na maszynach wytrzymałościowych. Mikroekstensometry FaMiS umożliwiają pomiary lokalnych przemieszczeń/odkształceń i są wykorzystywane do badań mikroobiektów. Szczegółowo przeanalizowano ich konstrukcję i własności oraz podano przykłady zastosowań. W podsumowaniu zasygnalizowano kierunki dalszych prac związanych z budową niskonakładowych zintegrowanych mikroekstensometrów do badania elementów mikrosystemów typu MEMS/MOEMS.
EN
Optical methods of strain measurement constitute a generic technology which supports life cycle performance, safety and reliability assessments, and the design optimization of objects varying in scale from micro-machines to civil engineering structures. One of the most useful optical methods for in-plane displacement/strain measurement and monitoring is grating interferometry. In this work new optical extensometers, based on grating interferometry, are presented. In the first part, theoretical principles of grating interferometry are described and a review of existing interferometers with three-mirror and grating (achromatic) heads is presented. Foliowing this, a modification of the laboratory grating interferometer (LIS) is described and the uncertainty of in-plane displacement measurement is evaluated. For the examples of material joints, testing the usefulness of LIS in opto-numerical hybrid techniques is shown. In the second part, a new family of optical extensometers is introduced. The laser grating extensometer (LES) is a fully automated device which can work directly on the loading machine. The wave-guide grating microcxtensometers (FaMiS) can be used for microelement testing. The design and properties of these extensometers are analysed in detail, and examples of their applications in material engineering and micromechanics are presented. The final section outlines directions for further work connected with the design of low-cost, integrated, interferometric micro-exten-someters for MEMS/MOEMS testing.
Rocznik
Tom
Strony
3--78
Opis fizyczny
Bibliogr. 93 poz., rys., tab., wykr.
Twórcy
autor
  • Wydział Mechatroniki
Bibliografia
  • 1. Mumford P.M.: Application of microcomputers to mechanical testing of materials, Metal Progress, 118, 1980
  • 2. http://encyklopedia.interia.pl
  • 3. Morris Ch. (ed.): Academic press dictionary of science and technology, Academic Press, 1992
  • 4. http://www.mts.com
  • 5. http://www.zwick.com
  • 6. Settimi T.: Optical extensometry: It's here to stay!, http://www.united.com
  • 7. http://www.optra.com
  • 8. http://www.ametek.com
  • 9. http://www.epsilontech.com
  • 10. http://www.fiedler-oe.de
  • 11. http://www.walterbai.com
  • 12. http://www.instron..com
  • 13. Sałbut L., Kujawińska M., Sitnik R., Dymny G.: Long base optical extensometer for tensile testing machine, Proc. SPIE, 4398, 45-49, 2001
  • 14. Sirohi R.J. (ed): Speckle metrology, Marcel Dekker Inc., New York, 1993
  • 15. Olszak A., Patorski K.: Frequency modulated fiber optic electronic speckle pattern interferometry (ESPI) and its applications. Part I and II, Opto-Electronics Review, v. 5,69-92, 1997
  • 16. http://www.steinbichler.de
  • 17. http://www.ettemeyer.de
  • 18. Steichen W. Et al.: Electronic shearography (ESPSI) for direct measuremen t of strains, Proc. SPIE, 2248, 210-221, 1994
  • 19. Post D.: Moiré interferometry, w: SEM handbook on experimental mechanics, A.S. Kobayashi, (ed), (Prentice-Hall, Englewood Cliffs), 1987
  • 20. Walker C.A.: A historical review of moire interferometry, Exp. Mechanics, 34, 45-47, 1991
  • 21. Patorski K.: The handbook of the moiré fringe technique, (EIsevier, Amsterdam), 1993
  • 22. Post D., Han B., Ifju P.: High sensitivity moiré, Springer- Verlag, 1994
  • 23. Dai F.L., McKelvie J., Post D.: An interpretation of moiré interferometry from wavefront interference theory, Opt. Lasers Eng., 12, 101-108, 1990
  • 24. McKelvie J., Patorski K.: Influence of the slopes of the specimen grating surface on out-of-plane displacements measured by moiré interferometry, Appl. Opt., 27, 4603-4605, 1988
  • 25. Robinson D.W., Reid G.T. (eds): Interferogram analysis: digital fringe patteern 26. measurement techniques, Institute of Physics Publ., Bristol and Philadelphia, 1993
  • 26. Schwider J.: Automated evaluation techniques in interferometer, in Wolf E. (ed), Progress in Optics, XXVIII, Amsterdam, Elsevier Science Publ., 1990
  • 27. Kujawińska M., Sałbut L: Interferometria laserowa, Wykłady Szkoły "Metrologia Wspomagana Komputerowo", t. I, 11-58, 1999
  • 28. Creath K., Schmit J.: N-point spatial phase measurement technique for nondestructive testing, Opt. Lasers Eng., 24, 365-379, 1996
  • 29. Pirga M., Kujawińska M.: Two-directional spatial-carrier phase shifting method for analysis of crossed and closed fringe pattren, Opt. Eng., 34, 2459-2466, 1995
  • 30. McKelvie J., Walker C.A., MacKenzie P.M.: A workday moiré interferometer: conceptual and design considerations, Proc. SPIE, 814, 464-467, 1987
  • 31. Deason V.A., Ward M.B.: A compact portable diffraction moiré interferometer, Proc. SPIE, 1162, 26-35, 1989
  • 32. Huntley J.M., Palmer S.J., Howell T., Goldrein T., Gunnar L.: Microstructural strain analysis by high magnification moiré interferometry, Proc. SPIE, 2545, 86-95, 2005
  • 33. http://www.expolidmech.com
  • 34. Sprawozdanie z prac wykonywanych w ramach CPBR 12.3 "Interferometr laboratoryjno-przemysłowy do badań przemieszczeń i odkształceń elementów konstrukcji oraz badań materiałowych", IKPPiO PW, 1989
  • 35. Rafałowski M.: The optimalization of three-mirror iluminating system for the four-beam moiré interferometer, Opt. Lasers Eng., 20, 229-239, 1994
  • 36. Sałbut L.: Zastosowanie zjawiska polaryzacji w interferometrze siatkowym z komputerowym przetwarzaniem obrazów prążkowych, Rozprawa doktorska, Wydział Mechatroniki PW,1995
  • 37. Patorski K., Post D., Czarnek R., Guo Y.: Real-time optical differentiation for moiré interferometry, Appl. Opt., 26, 1977-1982, 1987
  • 38. Sałbut L.: Multichannel system for automatic analysis of u, v and w displacements in grating interferometry, in Physical Research, 19, W. Jűptner and W. Osten (eds), Akademie Verlag GmbH, 1993
  • 39. Sałbut L., Patorski K.: Polarization phase shifting method for moiré interferometry and flatness testing, Appl. Opt., 29, 1471-1473, 1990
  • 40. Sałbut L., Patorski K., Kujawińska M.: Polarization approach to high-sensitivity moiré interferometry, Opt. Eng., 31, 1992
  • 41. Kujawińska M., Sałbut L., Patorski K.: Three-channel phase stepped system for moiré interferometry, Appl. Opt., 30,1633-1635, 1991
  • 42. Patorski K., Sałbut L.: Generation of the derivative of out-of-plane displacements in the high-sensitivity grating interferometry configuration, Opt. Lasers Eng., 26, 59-70, 1997
  • 43. Czarnek R.: High sensitivity moiré interferometry with compact achromatic interferometer, Opt. Lasers Eng., 13, 93-101, 1990
  • 44. Patorski K.: Interferencyjna metoda mory do badań przemieszczeń i odkształceń, AND, 4, 6-11, 1988
  • 45. Ifju P., Post D.: Zero thickness specimen gratings for moiré interferometry, Exp. Techniques, 15,45-47, 1991
  • 46. Sprawozdanie z grantu KBN ,"Zautomatyzowany system interferometru siatkowego do badań i kontroli miniaturowych elementów mechatroniki i elektroniki", ImiF PW, 1997
  • 47. Kearney A., Forno C.: High temperature resistant gratings for moiré interferometry, Exp. Techn., 17, 9-12, 1993
  • 48. Dally J.W., Read D.T.: Electron-beam moiré, Exp. Mechanics, 33, 270-277, 1993
  • 49. Sałbut L.: Zautomatyzowany system interferometru siatkowego do badań odkształceń w materiałach i elementach mechatroniki i elektroniki. Materiały IV Konferencji Naukowej "Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne COE '96", t. II, 194-197, 1996
  • 50. Przewodnik: Wyrażanie niepewności pomiaru, GUM, 1999
  • 51. Kujawińska M., Sałbut L.: Automated moiré interferometry for residual stress determination in engineering objects, w: Handbook of moiré measurement, C.A. Walker (ed), IOP, Bristol and Philadelphia, 271-285, 2004
  • 52. Jancelewicz B., Pasierski J., Sałbut L.: Badania ograniczeń odkształcalności poprzecznej kompozytów wielowarstwowych poprzez warstwy zbrojone jednokierunkowo, XVII Sympozjum Mechaniki Eksperymentalnej Ciała Stałego, Jachranka, 230-236, 1996
  • 53. Sałbut L., Kujawińska M.: Novel material studies by automatic grating interferometry, Proc. SPIE, 2861, 212-219, 1996
  • 54. Sałbut L., Dymny G., Kujawińska M.: Policrystaline materials studies by automatic grating interferometry, Proc. SPIE, 2782, 513-521, 1996
  • 55. Sałbut L., Kujawińska M.: Moiré interferometry/thermovision metod for electronic packaging testing, SPIE 3098, 10-17, 1997
  • 56. Sałbut L., Holstein D.: Laser weldment properties analysis by hybrid experimental numerical method, Proc. SPIE, 3745, 257-263, 1999
  • 57. Holstein D., Sałbut L., Kujawińska M., Jüptner W.: Hybrid experimental-numerical concept of residual stress analysis in laser weldments, Exp. Mech., 41, 343-348, 2001
  • 58. Sałbut L., Kujawińska M., Bułhak J., Golański J., Krajewski A.: Ceramic-to-metal joints testing by automated grating interferometry, Experimental Mechanics, AlIison (ed), Balkema, Rotterdam, 633-638, 1998
  • 59. Sałbut L., Kujawińska M., Józwik M., Golański D.: Investigation of ceramic-to-metal joint properties by hybrid moiré interferometry/FEM analysis, Proc. SPIE, 3745, 298-306, 1999
  • 60. Laermann K.H.: Recent developments and further aspects of experimental stress analysis in the Federal Republic of Germany and Western Europe, Exp. Mech., 21, 49-58, 1981
  • 61. Rowlands R. E.: Residual stress, w: SEM handbook on experimental mechanics, A.S. Kobayashi, (ed), Prentice-Hall, Englewood Cliffs, 1987
  • 62. Dally J.W., Riley W.F.: Strain gages, w: SEM handbook on experimental mechanics, A.S. Kobayashi, (ed), Prentice-Hall, Englewood Cliffs, 1987
  • 63. Aleksen O.M.: Advances in brazing of ceramics, Journal of Mat. Sci., 27, 1989-2000, 1992
  • 64. Sprawozdanie z grantu KBN "Optyczno-numeryczna metoda badania właściwości mechanicznych wielofazowych połączeń ceramiczno-metalowych", ITM i ImiF PW, 1999
  • 65. Sałbut L.: Zautomatyzowany system interferometru siatkowego do badań i kontroli miniaturowych elementów mechaniki i elektroniki, Mat. Konf. Metrologia Wspomagana Komputerowo, Zegrze, t. 3, 183-187, 1997
  • 66. Kujawińska M., Sałbut L.: Standard guide on grating (moiré) interferometry for in-plane displacement/strain analysis, www.optical_strain.com.cu
  • 67. Sałbut L., Kujawińska M., Patterson E., Hack E., Burguete R., Whelan M., Mendels D.A.: Development of standard measurement chain for full-field optical strain measurement methods, Proc. SPIE, 5532, 268-277, 2004
  • 68. Mendels D.A., Hack E., Siegman P., Patterson E., Sałbut L., Kujawińska M., Schubach H.R., Dugand M.M., Kehoe L., Stochmil C., Brailly P., Whelan M.: Round robin exercise for optical strain measurement, ICEM12 - 12th International Conference on Experimental Mechanics, Bari, 2004
  • 69. Sałbut L.: Ekstensometry optyczne. Budowa i kierunki rozwoju, Mat. XX Sympozjum Mechaniki Eksperymentalnej Ciała Stałego, Jachranka, 26-37, 2002
  • 70. Sałbut L.: Nowa generacja ekstensometrów optycznych, Prace Naukowe Wydziału Mechatroniki Politechniki Warszawskiej, 70, 60-74, 2002
  • 71. Sałbut L.: Mikrointerferometry: Budowa i zastosowania w mechanice eksperymentalnej, XXI Sympozjum Mechaniki Eksperymentalnej Ciała Stałego, Jachranka, 2004
  • 72. Kujawińska M., Sałbut L.: Optyczny pomiar odkształceń, w: Informatyczny system zarządzania środowiskiem pomiarowo-obliczeniowym, ITB, Warszawa 2004
  • 73. www.optical_strain.org
  • 74. Boroński D., Sałbut L.: Wykorzystanie interferometrii siatkowej do badania odkształceń w wielocyklowym zmęczeniu elementów z karbem, XVII Sympozjum Mechaniki Eksperymentalnej Ciała Stałego, Jachranka, 105-111, 1996
  • 75. Sprawozdanie z Projektu Celowego KBN nr 2283/C T07-7/98 "Zautomatyzowany system laserowego ekstensometru siatkowego do diagnostyki maszyn i urządzeń", ITE, 2001
  • 76. Sałbut L.: Novel laser full-field extensometer integrated with loading machine, Proc. SPIE, 4076, 210-216. 2000
  • 77. Kujawińska M., Sałbut L., Jóźwik M., Boroński D.: Ekstensometr laserowy zintegrowany z maszyną wytrzymałościową, XIX Sympozjum Mechaniki Eksperymentalnej Ciała Stałego, Jachranka, 361-366, 2000
  • 78. Kujawińska M., Sałbut L.: New generation of optical extensometers based on grid techniques and active phase analysis, Proc. The 4th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns, "Fringe'2001", EIsevier, 86-93, 2001
  • 79. Sałbut L.: Automated laser extensometer for full-field and local in-plane displacements and strains measurement, Proc. SPIE, 4900, 1254-1261,2002
  • 80. Boroński D.: Badania doświadczalne odkształceń lokalnych w spawanych laserowo stalowych strukturach panelowych metodą interferometrii siatkowej, Przegląd Spawalnictwa 2-3, 17-21, 2004
  • 81. Sałbut L.: Waveguide grating (moiré) microinterferometer for in-plane displacement/strain field investigation, Optical Engineering, 41(3),626-631,2002
  • 82. Sałbut L., Józwik M.: Novel aspects of interferometric testing of siJicon microelements properties, Proc. SPlE, 4075, 109-116, 2000
  • 83. Sałbut L., Kujawińska M., Bering A.: Falowodowy mikrointerferometr siatkowy do badania elementów mechatroniki, XIX Sympozjum Mechaniki Eksperymentalnej Ciała Stałego, Jachranka, 462-467, 2000
  • 84. Sałbut L., Jóźwik M., Górecki C., Lee S.: Waveguide interferometry system for microelements investigation, Proc. SPIE, 4400, 2001
  • 85. Kujawińska M., Sałbut L.: Waveguide automated moiré interferometer for in-plane displacement/strain fields investigation in micromechanics, w: Material mechanics; fracture mechanics; micro materials, T. Winkler, A. Schubert (eds), Fraunhoferr IZM Berlin, 252-258, 1999
  • 86. Sałbut L.: Interferometryczne stanowisko do badań materiałowych i mechanicznych elementów MEMS, Elektronizacja, 7/8, 18-21,2002
  • 87. Sałbut L.: Grating interferometry for in-plane displacement and strain measurement of microcomponents, w: Optical inspection of microsystems, W. Osten (ed), (w druku)
  • 88. Patorski K., Kujawińska M., Sałbut L.: Interferometria laserowa z automatyczną analizą obrazu, OWPW, 2005
  • 89. Sałbut L., Kujawińska M.: The optical measurement station for complex testing of microelements, Opt. Lasers Eng., 36, 225-240, 2001
  • 90. Sałbut L., Kujawińska M., Krężel J.: Laser waveguide microinterferometer integrated with MEMS platforms, Proc. SPIE, 5958, 152-158,2005
  • 91. www.smarttech.com.pl
  • 92. www.micro-optics.org
  • 93. Descour M.R.: Three dimensional micro-optical systems, www.optics.arizona.edu/Descour/lensl.htm2000
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-PWA7-0019-0018
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.