PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Mechaniczna filtracja profili nierówności o normalnym rozkładzie rzędnych

Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Mechanical filtration of surface profiles of normal ordinate distribution
Konferencja
Mechanics 2004 / International Scientific Conference (IV ; 25-26.06.2004; Zhytomir - Rzeszów, Poland)
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Analizowano zniekształcenie profili nierówności powierzchni o normalnym rozkładzie rządnych wywołane filtrującym działaniem sferycznej końcówki pomiarowej. Początkowa część pracy dotyczy analizy zniekształcenia symulowanych profili losowych o różnych parametrach wzdłużnych i amplitudowych. Przeanalizowano możliwość rekonstrukcji profili z wykorzystaniem obwiedni dolnej. Przedmiotem rozważań był również dobór minimalnego kroku próbkowania. W końcowej części pracy zaproponowano możliwość przewidywania wartości parametru Rq powierzchni oryginalnej (przed filtracją mechaniczną).
EN
Distortion of profiles of surfaces of normal ordinate distribution caused by mechanical filtration of stylus tip was analyzed. The first part of work is concerned with the analysis of distortion of computer generated random profiles of different spacing and amplitude parameters. The possibility of profile reconstruction using lower envelope was studied. The selection of minimum sampling interval was also taken into consideration. In last part of paper the possibility of prediction of Ra parameter value of the original surface profile (before filtration) was proposed.
Rocznik
Strony
73--80
Opis fizyczny
Bibliogr. 18 poz., wykr.
Twórcy
autor
  • Politechnika Rzeszowska
autor
  • Politechnika Rzeszowska
Bibliografia
  • 1. Chetwynd D.G.: The digitisation of surface profiles.Wear 57, 1979, 137-145
  • 2. Dietzsch M., Frenzel C., Gerlach M., Groeger S., Ramann D.: Consequences of the GPS standards to the assessment of surface topography. XI International Colloquium on Surfaces, Chemnitz 2004, 1-12
  • 3. Elewa I., Koura M.M.: Importance of checking the stylus radius in the measurement of Surface roughness. Wear 109, 1986, 401-41
  • 4. Hillman W., Kranz O., Eckolt K.: Reliability of roughness measurements using contact stylus instruments with particular reference to results of recent research at the Physikalisch-Technische Bundesanstalt. Wear 97, 1984, 27-43
  • 5. Jungles J., Whitehouse D.J.: An investigation of the shape and dimensions of same diamond styli. Journal of Physics E: 3, 1970, 437-440
  • 6. Krystek M.: Morphological filters in surfaces texture analysis. XI International Colloquium on Surfaces, Chemnitz 2004, 43-54
  • 7. McCool J.I.: Assessing the effect of stylus tip radius and flight on surface topography measurement. Transaction of the ASME. Journal of Tribology, 106, 1984, 202-210
  • 8. Mendeleyev V.A.: Dependence of measuring errors of rms roughness on stylus tip size for mechanical profilers. Applied Optics 36/34, 1997, 9005-9009
  • 9. O'Donell K.A.: Effects of finite stylus width in surface contact profilometry. Applied Optics, vol. 32, No 25, 1993, 4022-4928
  • 10. Pawlus P., Chetwynd D.G.: Efficient characterization of surface topography in cylinder bores. Precision Engineering 19, 1996, 164-174
  • 11. Poon C.Y., Bhushan B.: Comparison of surface measurement by stylus profiler, AFM and noncontact optical profiler. Wear 190 (1995), 76-88
  • 12. Radhakrishnan V.: Effect of stylus radius on the roughness values measured with tracing stylus instrument. Wear 16, 1970, 325-335
  • 13. Shunmugam M.S., Radhakrishnan V: Selection and fitting of reference lines for surface profiles. Proc. Inst. Mech. Engrs., 190, 197-201, 1976
  • 14. Thomas T.R.: Rough Surfaces. Second Edition, Imperial College Press, London 1999
  • 15. Villarubia J.S.: Algorithms of scanned probe microscope image simulation, surface reconstruction, and tip estimation. J. Res. Natl. Stand. Technol. 1997, 102, 425-454
  • 16. Vorburger T.V., Dagata J.A., Wilkening G., Iizuka K.: Characterization of surface topography. In Beam Effects, Surface Topography and Depth Profiling in Surface Analysis, edited by Czandema et al., Plemum, Press, New York 1998, Chapter 4, 275-354
  • 17. Whitehouse D.J.: Theoretical analysis of stylus integration. CIRP Ann. 23/1, 181-182, 1974
  • 18. Wu J-J; Spectral analysis for the effect of stylus tip curvature on measuring rough surfaces. Wear 230, 1999, 194-200
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-PWA7-0017-0009
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.