Computer controlled setup for thin film magnetoresistance measurements

• Autorzy: Marszałek K. , Kray S. , Marszałek M.
• Konferencja: VII Krajowa Konferencja Techniki Próżni (7; 18-21.09.2005; Cedzyna, Polska)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper presents design and properties of the system for measuring of the magnetoresistance of multilayers and thin films. The measurement is automated using a computer with LabVIEW programming environment. labVIEW is a commercial high level praphical programming language that is designed for data acquisition and control. This paper discusses the applicability of LabVIEW in programming data acquisition systems in the physical experiments and demonstrates its utility in magnetoresistance measurements.

Słowa kluczowe

EN

thin film; computer modelling

PL

cienkie warstwy; modelowanie komputerowe

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
• Czasopismo: Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Elektronika
• Rocznik: 2005
• Tom: z. 153
• Strony: 121--131
• Opis fizyczny: Bibliogr. 18 poz., schem., wykr., tab

Twórcy

autor

Marszałek K.

• AGH University of Science and Technology, Department of Electronics, al. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków

autor

Kray S.

• Siegen University, Herrengarten, D-57-068 Siegen

autor

Marszałek M.

• Institute of Nuclear Physics PAN, ul. Radzikowskiego 152, 31-342 Kraków

Bibliografia

• [1] M.N. Baibich, J.M. Broto, A. Fert, F. Nguyen Van Dau, F. Petroff, P. Etienne, G. Creuzet, A. Friederich, J. Chazelas, Phys. Rev. Lett., vol. 61, s. 2472, 1988.
• [2] S.S.S. Parkin, Z.G. Li and D.J. Smith, Appl. Phys. Lett. vol. 58, s. 2710, 1991.
• [3] C.H. Marrows, N. Wiser, B.J. Hickey, T.P.A. Hase, B.K. Tanner, J. Phys.: Condens. Matter. vol. 11, s. 81, 1999.
• [4] J.M. Daughton, Thin Solid Films, vol. 216, s. 162, 1992.
• [5] J.M. Daughton and Y.J. Chen, IEEE Trans. Magn. vol. 29, s. 2705, 1993.
• [6] J. Daughton and J. Brown, Proceedings Sensor Expo Anaheim, vol. 431, s. 273-81, 1996.
• [7] National Instruments, Lab VIEW User Manual, 2000.
• [8] M. Marszałek, J. Jaworski, Z. Stachura, V. Voznyi, O. Bölling, B. Sulkio-Cleff, phys.stat.sol.(a), vol. 189, s. 653-658, 2002.
• [9] M. Kąc, M. Toulemonde, J. Jaworski, J. Juraszek, R. Kruk, S. Protsenko, V. Tokman, M. Marszałek, Molecular Phys. Rep., vol. 40, s. 89, 2004.
• [10] M. Marszałek, O. Bölling, J. Jaworski, M. Kąc, R. Kruk, V. Tokman, B. Sulkio-Cleff, phys.stat.sol.(c), vol. 1, s. 3239, 2004.