Elektronomikroskopowe badania nanostrukturalnychj warstw na bazie fullerenu i palladu

• Autorzy: Kozłowski M. , Dłużewski P. , Czerwosz E. , Nietubyć R.
• Konferencja: VII Krajowa Konferencja Techniki Próżni ( 7; 18-21.09.2005; Cedzyna, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

EN

We present results of structual investigationsof thin composite nanocrystalline carbonaceous - Pd films. Structure of the films was examined by SEM and TEM methods. The structure changes with different Pd content were observed on electron diffraction and microscopic images.

Słowa kluczowe

PL

mikroelektronika; warstwy nanostrukturalne

EN

microelectronics

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
• Czasopismo: Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Elektronika
• Rocznik: 2005
• Tom: z. 153
• Strony: 113--116
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., rys.

Twórcy

autor

Kozłowski M.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, ul. Długa 44/50, 00-241 Warszawa
• Instytut Fizyki PAN, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa

autor

Dłużewski P.

• Instytut Fizyki PAN, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa

autor

Czerwosz E.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, ul. Długa 44/50, 00-241 Warszawa

autor

Nietubyć R.

• Instytut Fizyki PAN, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa

Bibliografia

• [1] E. Czerwosz, P. Dłużewski, M. Kozłowski, J.W. Sobczak, E. Starnawska, H. Wronka, Electron emitting nanostructures of carbon +Pd system, Molecular Crystals & Liquid Crystals 353, 237, 2000.
• [2] E. Czerwosz, M. Adydan, P. Dłużewski, W. Gierałtowski, M. Kozłowski, E. Starnawska, H. Wronka, Zimna Emisja Elektronowa z warstw układu C60/C70+Ni, Prace naukowe Politechniki Warszawskiej, Elektronika, z.123, s. 83-86, 1999.
• [3] Powder Diffraction Data Base JCPDS, Card No. 44-558.
• [4] Powder Diffraction Data Base JCPDS, Card No. 46-1043.