Emitery elektronów o niskiej pracy wyjścia

• Autorzy: Czerwosz E.
• Konferencja: VII Krajowa Konferencja Techniki Próżni (7; 18-21.09.2005; Cedzyna, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

EN

The films composed of carbonaccous and transition metal nanocrystals show extraordinary low value of work function (measured by photoelectric method). In this paper the differences between field emission of electron and observed electron emission under external electric field from these films are discussed. Some reasons of lowering of work function value are also presented.

Słowa kluczowe

PL

pomiary; metody fotoelektryczne; emisja elektronów

EN

measurements; photoelectric method; electron emission

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
• Czasopismo: Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Elektronika
• Rocznik: 2005
• Tom: z. 153
• Strony: 41--48
• Opis fizyczny: Bibliogr. 33 poz., wykr., schem.

Twórcy

autor

Czerwosz E.

• Instytut Matematyki, Akademia Świętokrzyska, 25-406 Kielce, ul. Świętokrzyska 15
• Przemysłowy Instytut Elektroniki, 00-241 Warszawa, ul. Długa 44/50

Bibliografia

• [1] Y. Saito, S. Uemura, Karbon, 38, s. 169-182, 2000.
• [2] Ok.-Joo Lee, Kun-Hong Lee Apel. Phys. Lett., 82, 8.3770-3772, 2003.
• [3] W. Knapp, D. Schleussner, A.S. Baturin, I.N. Yeskin, E.P. Sheshin, Vacuum, 69, s. 339-344, 2003.
• [4] V. Dyakonov, I. Riedel, C. Deibel, J. Parisi, C.J. Brabec, N.S. Sariciftci, J.C. Hummelen, Mat. Res. Symp. Proc., vol. 665, s.C.7.1.1-12, 2001.
• [5] R.H. Fowler, L. Nordheim, Proc. R. Soc. London, A119,8.173, 1928.
• [6] R.H. Fowler, Phys. Rev., 38, p. 45, 1931.
• [7] J. He, P. Cutler, T. Feuchtwang, N. Miskovsky, T. Sullivan, Proc. Of 3rd International Conference on Vacuum Microelectronics, Monterey, California, 1990,
• [8] Za R.G. Forbes - Ultramicroscopy 79, s. 11-23, 1999.
• [9] W.F. Własow, Lampy Elektronowe, s. 49, PWN Warszawa (1954).
• [10] O.M. Kuttel, O. Groening, Ch. Emmenegger, L. Schlapbach, Appl. Phys. Lett., 73, s. 2113-2115.
• [11] P. Lerner, N.M. Miskovsky, P. Cutler, M.C. Chung J. Vac. Sci. Technol., 21, s. 406-410, 2003.
• [12] I. Brodie, C.A. Spindt, Vacuum Microelectronics, s. 19-22, SRI International, Kalifornia, 1992.
• [11] E. Czerwosz, P. Dłużewski, R. Nowakowski, H. Wronka, Vacuum, 48, s. 361, 1997.
• [14) E. Czerwosz, Elektronika, 11, s. 20-24, 1999.
• [15] E. Czerwosz, P. Dłużewski, M. Kozłowski, Elektronika, 11, 42-45, 2000.
• [16] E. Czerwosz, P. Dłużewski, W. Gierałtowski, J.W. Sobczak, E. Starnawska, H. Wronka, J. Vac. Sci. Technol. B18, 1064, 2000.
• [17] P. Dłużewski, M. Kozłowski, E. Czerwosz, Diamond and Related Materials 11(3-6), s. 809, 2002.
• [18] E. Czerwosz, P. Dłużewski, M. Kozłowski, M. Nowicki, A. Richter, Vacuum 74, s. 311-315, 2004.
• [19] J. Holtz, F.K. Schultze, Solid Surface Physics, vol. 85, s. 92, 1979.
• [20] G. Gesterblum et al., Phys. Rev., B50, s. 11981, 1994.
• [21] Y. Cheng, O. Zhou, C.R. Physique 4, s. 1021-1033, 2004.
• [22] V.S. Fomenko, Handbook of Thermoionic Properties, Plenum Press, New York 1966.
• [23] E. Czerwosz, P. Dłużewski, J.P. Girardeau-Montaut, D. Vouagner, K. Zawada, Vacuum 63, s. 355, 2001.
• [24] E. Czerwosz, P. Dłużewski, T. Kutner, T. Stacewicz, Thin Solid Films 423, s. 161-168, 2003.
• [25] D. Vouagner, E. Czerwosz, B. Ghampagnon, H. Wronka, J.-P. Giradeau-Montaut, J. Vac. Sci. Technol., 21(4), s.l556, 2003.
• [26] E. Czerwosz, D. Vouagner, B. Champagnon, H. Wronka, P. Dłużewski, J.P. Girardeau-Montaut, Diamond and Rel. Mat. 13,s. 1437-1441, 2004.
• [27] J. Li et al., Carbon, 42, s. 2309-2314, 2004.
• [28] A.V. Karabutov, V.D. Frolov, S.M. Pimenov, V.I. Konov - Diamond and Rel. Mat., 8, s. 763-767, 1999.
• [29] N.L. Rupersinhe, M. Chhowalla, K.B.K. Teo, A.J. Amaratunga, J. Vac. Sci. Technol., B21(1), s. 338-343, 2003.
• [30] Y. Saito et al., Appl. Phys. A., 67, s. 95-100, 1998.
• [31] Y.V. Gulayev et al., Proc. Of International Vacuum Microelectrics, St. Petersburg, s. 206-210, 1996.
• [32] A.O. Christensen U.S. Patent 4,663,559, 1987.
• [33] J. Zhao, J. Han, J. Ping Lu Phys. Rev., B65, s. 193401-1-4, 2002.