Wykorzystanie elektronów wstecznie rozproszonych w mikroskopie elektronowym do analizy składu atomowego spoin wykonanych za pomocą wiązki elektronowej

• Autorzy: Detka A. , Kaczmarek D. , Domaradzki J.
• Konferencja: Techniki Próżni i Technologie Próżniowe (6; 7; 23-25.09.2002; Korbielów, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

EN

For the investigation of welds joined with electron beam the methods like X-ray microanalysis or microscopic examination of cross-section are usually employed. The paper presents the improved method of specimen composition analysis using the backscattered electron signal (BSE) in the scanning electron microscope (SEM). The verification of BSE method has been done on the example of W-Mo weld by typical methods employed in metallography.

Słowa kluczowe

PL

elektrony; mikroskop elektronowy; wiązka elektronowa; spoiny

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
• Czasopismo: Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Elektronika
• Rocznik: 2002
• Tom: z. 143
• Strony: 159--162
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr., rys.

Twórcy

autor

Detka A.

• Wydział Elektorniki Mikrosystemów i Fotoniki, Politechnika Wrocławska

autor

Kaczmarek D.

• Wydział Elektorniki Mikrosystemów i Fotoniki, Politechnika Wrocławska

autor

Domaradzki J.

• Wydział Elektorniki Mikrosystemów i Fotoniki, Politechnika Wrocławska

Bibliografia

• 1. M.D. Ball, D.G. McCartney, J. Microsc. Vol. 124, Pt. 1, s. 57-68, 1991.
• 2. D. Kaczmarek, Opt. Appl. vol. 27, nr 3, s. 161-171, 1997.
• 3. M. Kotera, S. Yamaguchi, T. Fujiwara, Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 31, s. 4531-4536, 1992.
• 4. E.G. Vajda, J.G. Skedros, R.D. Bloebaum, Scan. Microsc. Vol. 9, nr 3, s. 741-755, 1995.
• 5. D. Kaczmarek, Scanning, vol. 19, nr 4, s. 310-315, 1997.
• 6. V. Robinson, Scan. Microsc. Vol. 1, s. 107-111, 1996.
• 7. R. Casttaing, Advanc. X-ray anal. Vol. 4, s. 351-355, 1960.
• 8. J.C. Russ, Elsevier Science Publishing, vol. 27, s. 185-197, 1991.