Prognoza rozwoju metod projektowania układów analogowo-cyfrowych z magistralą diagnostyczną

• Autorzy: Gonera M.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

układy analogowo-cyfrowe; magistrala diagnostyczna; uszkodzenia mikroelektroniczne

EN

matches analog-digital; diagnostic rout; microelectronics damages

• Wydawca: Przemysłowy Instytut Elektroniki
• Czasopismo: Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki
• Rocznik: 1998
• Tom: nr 134
• Strony: 8--1
• Opis fizyczny: --8-4, Bibliogr. 2 poz.

Twórcy

autor

Gonera M.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki ul. Długa 44/50 00-241 Warszawa