Metody projektowania łatwo diagnozowalnych układów analogowo-cyfrowych, zawierających moduł kontrolny w postaci magistrali diagnostycznej IEEE 1149.4

• Autorzy: Borkowska M. , Gonera M.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

analiza niezdatności; systemy analogowo-cyfrowe; magistrala diagnostyczna IEEE

EN

analysis of uneligibility; systems analog-digital; IEEE diagnoustic route

• Wydawca: Przemysłowy Instytut Elektroniki
• Czasopismo: Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki
• Rocznik: 1998
• Tom: nr 134
• Strony: 2--1
• Opis fizyczny: --2-10, Bibliogr. 5 poz.

Twórcy

autor

Borkowska M.

autor

Gonera M.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki ul. Długa 44/50 00-241 Warszawa