Diagnostyka uszkodzeń w systemach analogowo-cyfrowych

• Autorzy: Borkowska M. , Gonera M.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

diagnostyka uszkodzeń; mikroelektronika; mikroprocesory; systemy anologowo-cyfrowe

EN

system analog-digital; diagnosis of damage; diagnostics system; microelectronics; microprocessors

• Wydawca: Przemysłowy Instytut Elektroniki
• Czasopismo: Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki
• Rocznik: 2001
• Tom: nr 146
• Strony: 257--260
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., rys.

Twórcy

autor

Borkowska M.

autor

Gonera M.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki ul. Długa 44/50 00-241 Warszawa