Rozwój przemysłowych zastosowań technologii informacyjnych dla wspomagania procesów wytwórczych i pomiarowo-kontrolnych

• Autorzy: Kern J. , Wiechowski J.

Warianty tytułu

EN

Development of information technology industrial applications for supporting manufacturing and inspection processes

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł przedstawia niektóre zagadnienia badawczo-techniczne dotyczące zastosowań technik informacyjnych w procesach wytwórczych, badaniach, ochronie środowiska i zdrowia. Zagadnienia te są prezentowane na przykładach opracowań Przemysłowego Instytutu Elektroniki, zrealizowanych w ostatnim okresie. W obszarze technik wspomagających procesy produkcyjne autorzy opisali sieci pomiarowo-informatyczne i systemy wizyjne (w tym systemy rentgenograficzne) dla kontroli produktów, systemy technologiczne dla charakteryzacji paliw stałych i materiałów, systemy precyzyjnego spawania wiązką elektronową, systemy baz danych w zastosowaniach przemysłowych i badawczych. Przedstawiane przykłady opracowań z zakresu ochrony środowiska i zdrowia dotyczą systemów wspomagania renowacji i demontażu zużytej aparatury elektronicznej oraz informatycznego systemu diagnostyki osteoporozy. Ponadto, artykuł pokazuje perspektywy rozwojowe zastosowań technologii informacyjnych w inżynierii aparatury technologicznej i pomiarowej.

EN

The paper presents some research and technical problems related to applications of information technology in industry, for automation of manufacturing and testing processes. These problems are shown with the examples of developments, performed in the last years by the Industrial Institute of Electronics. In the area of technologies, supporting manufacturing processes, the authors described measurement-informatics' networks and machine vision systems (including X-Ray systems) for industrial products inspection, technological systems for characterization of solid fuels and materials, systems for precision welding with electronic beam, data base systems in industrial and testing applications.. In addition, the paper shows perspectives of development of those information technology applications in the areas of technological and measurement instrumentation engineering.

Słowa kluczowe

PL

technologia informacyjna; procesy wytwórcze; procesy pomiarowo-kontrolne

EN

information technology; supporting manufacturing; inspection processes

• Wydawca: Przemysłowy Instytut Elektroniki
• Czasopismo: Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki
• Rocznik: 2004
• Tom: nr 150
• Strony: 29--50
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Kern J.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, Warszawa

autor

Wiechowski J.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, Warszawa

Bibliografia

• [1] Norma ISO 10012, Wymagania Zapewnienia Jakości Wyposażenia Pomiarowego, Ośrodek Badania Jakości Wyrobów ZETOM
• [2] P. Machalica i in: System kontroli parametrów elektrofizycznych krzemowych warstw epitaksjalnych i dyfuzyjnych, Elektronika (XLIII) 12.2002, str. 12-15.
• [3] Mistrzowie Techniki NOT z warszawskiego PIE, Nowator XXI 7/2003, str. 5, 14.
• [4] W. Małkiński i in.: Metody analizy i przetwarzania obrazów na potrzeby kontroli jakości w przemyśle, Sprawozdanie PIE z Zadania 4.1, Warszawa, 12.03.
• [5] Industrial X-Ray inspection, www. productinspection.co.uk/x_ray_inspection.htm
• [6] Applied Sorting X-Ray Inspection Systems Specifications www.appliedsorting.com.au
• [7] M. Orzyłowski i in.: Analiza zagrożeń i opracowanie procedur zapewnienia bezpieczeństwa procesu syntezy InP, Sprawozdanie PIE z Zadania 13.1, Warszawa, 09.2003
• [8] W. Sielanko i in.: Specjalistyczna spawarka elektronowa do wykonywania obwodowych spoin tłumików drgań skrętnych, Elektronika (XLIII) 12.2002, str. 36-39.
• [9] S. Wójcicki in.: Electron Beam Welding in Poland; Current Status and Development Perspectives, Referat zgłoszony na VI. Międzynarodową Konferencję Spawanie Wiązką Elektronową i Laserową Halle, kwiecień 2004
• [10] J. Zając i in.: Opracowanie elementów kompleksowego systemu klient/serwer dla zastosowań przemysłowych i biurowych, Sprawozdanie PIE z Zadania 1.1, Warszawa, 09.2003