Dobór odległości próbkowania profili powierzchni zdeterminowanej

• Autorzy: Michalski J.

Warianty tytułu

EN

The selection of sampling length of the determined surface profiles

• Konferencja: Wytwarzanie elementów maszyn ze stopów metali o specjalnych właściwościach/VII Konferencja Naukowo-Techniczna (VII ; 2006 ; Rzeszów, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Analizowano modelowe powierzchnie zdeterminowane na podstawie ich profili: sinusoidalnego, trójkątnego o zmiennej wysokości i odległości, łukowego symetrycznego, łukowego o zmiennej wysokości i odległości, repliki profilu lukowego o zmiennej wysokości i odległości. Stosowano trzynaście odległości próbkowania. Przyjęte odległości próbkowania obejmowały cały zalecany w literaturze zakres ich długości. Wyznaczono je także z analizy widmowej i korelacyjnej profilu. Oceniono poprawność zaproponowanej odległości próbkowania profili na podstawie odchyleniem ich rekonstrukcji uzyskanej obwiedniami łuku okręgu. Wyniki badań zweryfikowano badaniami profili powierzchni walcowej kołowej obrobionej wierceniem oraz wytaczaniem elementu z niklowego stopu żarowytrzymałego. Przeprowadzono analizę statystyczną wyników badań.

EN

In model determined surfaces were analysed on their basis profiles: sinusoidal, triangular about variable of height and distance, curved symmetrical, curved about variable of height and distance, curved opposite. Testing were applied thirteen sampling length. The received sampling length hugged whole recommended in literature range of their length. It was marked with spectral analysis also and correlation profile. Proposed sampling length was estimated the correctness the profile on basis of their reconstruction got the envelope of bow the circle. It the investigations of section of cylindrical circular surface were verified was the results of investigations worked by drilling as well as boring from nickeI melt unit high - temperature creep resisting. The statistical analysis of results of investigations was conducted.

Słowa kluczowe

PL

metody analizy sygnałów; topografia powierzchni; profile powierzchni; struktura geometryczna powierzchni; odległość próbkowania

EN

surface profiles; surface random; surface topography

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej. Mechanika
• Rocznik: 2006
• Tom: z. 66 [227]
• Strony: 167--178
• Opis fizyczny: Bibliogr. 19 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Michalski J.

• Politechnika Rzeszowska

Bibliografia

• [1] Boryczko A: Metoda analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych w diagnozowaniu układu obróbkowego. Monografie Nr 42, Politechnika Gdańska, Gdańsk 2003.
• [2] Chetwynd D.G.: The digitisation of surface profiles, Wear, 1979, vol. 57, s. 137-145.
• [3] Cholewa W., Korbicz J., Moczulski W., Timofiejczuk A.: Metody analizy sygnałów. W, Korbicz J., Kościelny J. M., Kowalczuk Z., Cholewa W. (red.): Diagnostyka procesów. Modele. Metody sztucznej inteligencji. Zastosowania, WNT, Warszawa 2002, s. 115-146.
• [4] Dong W.P., Mainsah E., Stout K.J.: Determination of appropriate sampling conditions for three-dimensional microtopography measurement, International Journal of Machine Tools and Manufacture, 1996, vol. 36, no. 12, s. 1347-1362.
• [5] Greenwood J.A.: A unified theory of surface roughness, Proceeding Royal Society London, 1984, A 393, s. 133-157.
• [6] Guerrero J.L., Black J.T.: Stylus tracer resolution and surface damage as determined by scanning electron microscopy, Transaction of the ASME, Journal Engineering for Industry, 1972, vol. 94, s. 1087-1093.
• [7] Konczakowski A.: Metrologiczne uwarunkowania analizy widmowej struktury geometrycznej powierzchni w diagnostyce obrabiarek, Zeszyty Naukowe Politechniki Gdańskiej, Mechanika nr 62, Gdańsk 1991.
• [8] Lin T.Y., Blunt L., Stout K.J.: Determination of the proper frequency bandwidth for 3-D topography measurement using spectral analysis. Part I: Isotropic surface, Wear, 1993, vol. 166, s. 221-232.
• [9] Michalski J.: An evaluation of cylinder surface roughness after plateau honing, Advances in Technology of Machines and Mechanical Equipment, 1999, vol. 23, no 2, s. 29-69.
• [10] Miko E.: Konstytuowanie mikronierówności powierzchni metalowych obrobionych narzędziami o zdefiniowanej stereometrii ostrzy. Monografie, Studia, Rozprawy Nr 46, Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach, Kielce 2004.
• [11] Nowicki B.: Struktura geometryczna. Chropowatość i falistość powierzchni, WNT, Warszawa 1991.
• [12] Pawlus P., Chetwynd D.G.: Efficient characterization of surface topography in cylinder bores, Precision Engineering, 1996, vol. 19, s. 164-174.
• [13] Poon C.Y., Bhushan B.: Comparison of surface measurement by stylus profiler, AFM and non-contact optical profiler, Wear, 1995, vol. 190, s. 76-88.
• [14] Poon C.Y., Bhushan B.: Numerical contact and station analyses of Gaussian isotropic surface for magnetic head slider/disk contact, Wear, 1996, vol. 202, s. 68-82.
• [15] Sherrington I., Smith E.H.: Areal Fourier analysis of surface topography. Part I: Computational methods and sampling considerations, Surface Topography, 1990, no 3, s. 43-68.
• [16] Stout K.J., Sullivan P.J., Dong W.P., Mainsah E., Luo N., Mathia T., Zahouani H.: The Development of Methods for the Characterisation of Roughness in Three Dimensions, Publication EUR 15178 EN Commission of the European Communities, 1993.
• [17] Tsukada T., Sasajima S.: An optimum sampling interval for digitising surface asperity profiles, Wear, 1982, vol. 83, s. 119-128.
• [18] Whitehouse D.J,. Archard J.F.: The properties of random surface of significance in their contact, Proceeding Royal Society London, 1970, A 316, s. 97-121.
• [19] Wu J-J.: Spectral analysis for the effect of stylus tip curvature on measuring rough profiles, Wear, 1999, vol. 230, s. 194-200.