Analiza koncepcji jednoczesnego pomiaru nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego z wykorzystaniem metod optycznych

• Autorzy: Kapłonek W.

Warianty tytułu

EN

The analysis of conceptions for simultaneous evaluation of dimension and surface irregularities BY optical methods

• Konferencja: Wytwarzanie elementów maszyn ze stopów metali o specjalnych właściwościach/VII Konferencja Naukowo-Techniczna (VII ; 2006 ; Rzeszów, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przeanalizowano możliwość wykorzystania metody opartej na kątowej analizie natężenia światła rozproszonego oraz metody triangulacji laserowej do oceny nierówności powierzchni i kontroli czynnej wymiarów. Dokonano przeglądu koncepcji takiego pomiaru, a następnie zweryfikowano wybraną koncepcję pomiarową prowadząc badania doświadczalne. Celem badań było określenie przemieszczania odbitej wiązki światła laserowego na elemencie detekcyjnym układu pomiarowego w zależności od zmian wymiaru elementu badanego. Pokazano stanowisko badawcze oraz przedstawiono pierwszy wariant głowicy pomiarowej zaprojektowany z wykorzystaniem środowiska CAD/CAM/CAE SolidWorks.

EN

In the paper method base on angular distribution of the scattered light and laser triangulation for the active control of dimensions and evaluation oj surface irregularities is described. Author considered many conceptions of measurement, and next verifying a choosing conception by experimental investigations. The goal of investigations was fixing the position of reflected laser beam on detection element, when dimension of measured element was changing. The measuring set-up and the first variant of optical head designing with environment CAD/CAM/CAE SolidWorks was presented also.

Słowa kluczowe

PL

metody optyczne; inżynieria powierzchni; struktura geometryczna powierzchni; topografia powierzchni; warstwy powierzchniowe

EN

optical methods; surface topography; surface irregularities

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej. Mechanika
• Rocznik: 2006
• Tom: z. 66 [227]
• Strony: 113--121
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., rys.

Twórcy

autor

Kapłonek W.

• Politechnika Koszalińska

Bibliografia

• [1] BIELECKI Z., ROGALSKI A.: Detekcja sygnałów optycznych. WNT, Warszawa, 2001.
• [2] BRODMANN R., THURN G.: Roughness measurement of ground, turned and shot-peened surfaces by the light scattering method. Wear, Vol. 109, No. 3, 1986, 1-13.
• [3] KARPIŃSKI T., CZARNECKI R.: Pomiar struktury geometrycznej przedmiotów w trakcie ich szlifowania. Materiały XXV Naukowej Szkoły Obróbki Ściernej, Wrocław-Duszniki Zdrój, Wyd. ITM Politechniki Wrocławskiej, Wrocław, 2002, 167-176.
• [4] KOCHANIEWICZ T., ŁUKIANOWICZ Cz.: Ocena mikronierówności powierzchni na podstawie parametrów kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego. Mechanik, nr 3, 1991, 107-109.
• [5] ŁUKIANOWICZ Cz.: Optyczne metody oceny mikrogeometrii powierzchni wykorzystujące kątowy rozkład natężenia światła rozproszonego. Mechanik, 5-6, 1991, 179-184.
• [6] ŁUKIANOWICZ Cz.: Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła. Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, Koszalin, 2001.
• [7] ŁUKIANOWICZ CZ., KAPŁONEK W.: Analiza możliwości aktywnych pomiarów metodą optyczną nierówności powierzchni wałków obrabianych ściernie. Materiały XXVII Naukowej Szkoły Obróbki Ściernej, Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, Koszalin, 2004, 293-300
• [8] NOWICKI B.: Struktura geometryczna - chropowatość i falistość powierzchni. Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa 1991.
• [9] OCZOŚ K.E., LUBIMOV V.: Struktura geometryczna powierzchni - podstawy klasyfikacji z atlasem charakterystycznych powierzchni kształtowych. Oficyna wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów 2003.
• [10] PAWLUS P.: Topografia powierzchni - pomiary, analiza, oddziaływanie. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów, 2005.
• [11] VALLIANT J.G., FOLEY M.P., BENNETT J.M.: Instrument for on-line monitoring of surface roughness of machined surfaces. Optical Engineering, Vol. 39, No. 12, 2000, 3247-3254.
• [12] WIECZOROWSKI M., CELLARY A., CHAJDA J.: Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni czyli o chropowatości i nie tylko. Politechnika Poznańska, Poznań, 2003.
• [13] ZIĘTEK B.: Optoelektronika. Wydawnictwo Uniwersytetu Mikołaja Kopernika, Toruń 2004, 443-447.