Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Konferencja
Techniki Próżni i Technologie Próżniowe/Konferencja Techniki Próżni/Polsko Białoruskie Sympozjum Technologii Próżniowych (V; 9-11.06.1999; Borki k/Tomaszowa Maz., Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
Different methods of calculating the orifice conductance's correction factor, an important factor for the determining the pressure in dynamic calibration system, have been compared in this paper. This value has been calculated for conductance system recently applied in Instituto di Metrologia Gustavo Colonetti (Italy). Comparison of analytical methods with Monte-Carlo simulations shows that the last method could be successfully use for metrological purposes with uncertainties of the order of 10-5.
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
87--92
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz., tab., wyk.
Twórcy
autor
autor
- Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej Warszawa
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-PWA2-0005-0002