Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Konferencja
Zastosowanie czujników światłowodowych i optoelektronicznych w przemyśle i ochronie środowiska/sympozjum (II; 07.12.1999; Warszawa, Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
W pracy przedstawiono przegląd zautomatyzowanych optoelektronicznych systemów pomiarowych struktur powierzchniowych, opracowanych w Instytucie Mikromechaniki i Fotoniki PW. W szczególności zwrócono uwagę na możliwość wykorzystania techniki światłowodowej i półprzewodnikowych źródeł światła w budowie zminiaturyzowanych. kompaktowych polowych czujników interferometrycznych do pomiaru kształtu, mikrotopografii oraz przemieszczeń struktur powierzchniowych.
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
115--122
Opis fizyczny
Bibliogr. 2 poz., rys.
Twórcy
autor
- Wydział Mechatroniki Politechnika Warszawska
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-PWA1-0015-0019