PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Monowarstwy, multiwarstwy otrzymywanie, charakteryzowanie i zastosowanie w elektronice

Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Opisano sposoby otrzymywania monowarstw oraz muItiwarstw na powierzchni ciał stałych metodą powtarzanej samorzutnej adsorpcji. Porównano różne sposoby otrzymywania multiwarstw - metodą przeniesienia Langmuira-Blodgett powtarzaną reakcję redukcji końcowej grupy estrowej, reakcję utIeniania końcowej grupy winylowej oraz poprzez kolejną adsorpcję polielektrolitów. Przedstawiono cienkie warstwy zawierające w swojej strukturze "inteligentne cząsteczki". Omówiono niektóre zastosowanie monowarstw i multiwarstw w eIektronice. Szczególny nacisk położono na zastosowanie monowarstw i muItiwarstw w elektronice jako środków sprzęgających w warstwach enkapsulujących, zabezpieczających powierzchnie układów scalonych przed wpływem środowiska. Opisano i wykonano konstrukcje odpowiednich testerów elektronicznych i dokonano oceny niezawodności poIimerowych zabezpieczeń układów scalonych w obecności monowarstw i multiwarstw sprzęgających.
EN
Methods of depositing self-assembly monolayers and multilayers on to surfaces of solids were described. Different ways of producing multilayers - the Langmuir-Blodgett Transfer, repeated reaction of terminal ester group reduction, repeated reaction of terminal vinyl group oxidisation, repeated adsorption of polycationic and polyanionic polyelectrolytes - were briefly discussed and compared. Thin films with "smart molecules" were also described. Some applications of monolayers and multilayers in electronics were presented. Special emphasis was placed on the application of monolayers and multilayers in the field of electronics as coupling agents, bridging encapsulating polymer with the integrated circuit surface and therefore protecting it against environmental conditions. Special electronic testers were designed and fabricated, modified with coupling monolayers and multilayers and their effect on the IC reliability increase was evaluated.
Rocznik
Tom
Strony
3--88
Opis fizyczny
Bibliogr. 236 poz., tab., wykr.
Twórcy
  • Wydział Chemiczny Politechniki Warszawskiej 00-662 Warszawa ul. Koszykowa 75
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-PWA1-0001-0028
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.