Space-charge-limited currents as an indicator of non-uniform charge traps distribution in thin film dielectrics: numerical solutions

• Autorzy: Bąk G. W.

Warianty tytułu

PL

Prądy ograniczone ładunkiem przestrzennym jako wskaźnik przestrzennie niejednorodnego rozkładu pułapek w cienkich warstwach dielektryków: rozwiązania numeryczne

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Space charge limited currents in inhomogeneous thin film insulating systems are studied by means of numerical methods. Calculations for two spatial distribution of traps are presented. The results confirm that the influence of charge traps at the emitter is much stronger than those at the collector. The case of illumination of the emitter is also analyzed. It turns out that it is possible to find the valued of parameter describing the exponential decay of trap distribution at the emitter and the surface trap concentration for the case of illuminated sample. The paper summarizes the data concerning possibility of determination of trap distribution at the emitter in thin film insulators using photo-enhanced space-charge-limited current measurements.

PL

Przedmiotem pracy jest numeryczna analiza prądów ograniczonych ładunkiem przestrzennym w niejednorodnych układach cienkowarstwowych. Przedstawiono wyniki obliczeń dla dwu przestrzennych rozkładów pułapek. Potwierdzono, że wpływ pułapek przy emiterze jest znacznie większy niż tych przy kolektorze. Pokazano, że stosując fotowzmocnione prądy ograniczone ładunkiem przestrzennym, można niezależnie wyznaczyć wartości stałej zaniku koncentracji pułapek i ich powierzchniowej koncentracji. Praca podsumowuje wyniki dotyczące możliwości wyznaczenia parametrów niejednorodnego rozkładu pułapek w układach cienkowarstwowych.

Słowa kluczowe

EN

space charge limited currents; thin films; charge traps

PL

prądy ograniczone ładunkiem przestrzennym; cienkie warstwy; pułapka ładunkowa

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Scientific Bulletin. Physics / Lodz University of Technology
• Rocznik: 2012
• Tom: Vol. 33
• Strony: 19--29
• Opis fizyczny: Bibliogr. 29 poz.

Twórcy

autor

Bąk G. W.

• Institute of Physics, Lodz University of Technology, ul. Wólczańska 219, 90-924 Łódź

Bibliografia

• [1] Sze S.M., Physics of Semiconductor Devices, Wiley, New York 1981.
• [2] Yepifanov G., Physical Principles of Microelectronics, Mir Publishers, Moscow 1974.
• [3] Moore D.T., Appl. Opt., 19 (1980) 1035.
• [4] Akiba A., Iga K., Appl. Opt., 29 (1990) 4092.
• [5] Kryszewski M., Polymers for Advanced Technologies, 9 (1998) 244.
• [6] Silinsh E.A., Organic Molecular Crystals, Springer-Verlag, Berlin 1980.
• [7] Silinsh E.A., Capek V., Organic Molecular Crystals, American Institute of Physics, New York 1994.
• [8] Sworakowski J., Mol. Cryst. Liq. Cryst. 11 (1970) 1.
• [9] Sworakowski J., Mol. Cryst. Liq. Cryst. 19 (1973) 259.
• [10] Sworakowski J., Mol. Cryst. Liq. Cryst. 253 (1994) 233.
• [11] Akovali G., Biliyard K., Shen M., J.Appl.Polym.Sci., 20(1967) 2419.
• [12] Mott N.F., Gurney R.W., Electronic Processes in Ionic Crystals, Oxford Univ. Press, New York 1940.
• [13] Rose A., Phys. Rev. 97 (1955) 1538.
• [14] Lampert M., Phys.Rev. 103 (1966) 1648.
• [15] Lampert M.A., Mark P., Current Injection in Solids, Academic Press, New York 1970.
• [16] Helfrich W., Mark P., Z.Phys. 166 (1962) 370.
• [17] Many A., Rakavy G., Phys.Rev. 126 (1962) 1980.
• [18] Nicolet M.-A., J.Appl.Phys. 37 (1966) 4224.
• [19] Sworakowski J., J.Appl.Phys. 41 (1970) 292.
• [20] Bąk G.W., Thin Solid Films 238 (1994) 290.
• [21] Bąk G.W., J.Phys.:Condensed Matter 8 (1996) 4145.
• [22] Sworakowski J., Nespurek S., J.Appl.Phys. 65 (1989) 1559.
• [23] Godlewski J, Kalinowski J., Phys.Stat.Sol.(a) 53(1979) 161.
• [24] Kao K.C., Hwang W., Electrical Transport In Solids, Pergamon, Oxford 1981.
• [25] Szymański A., Acta Physica Polonica 34 (1968) 201.
• [26] Kania S., Lipiński A., Mycielski W., Thin Solid Films 72 (1980) L11.
• [27] Bąk G.W., Materials Science and Engineering 80 (1986) L37.
• [28] Bąk G.W., J.Phys.C: Solid State Phys., 20 (1987) 1129.
• [29] Du Y., Xue Y., Frish H.L., in „Physical Properties of Polymers – Handbook” ed. Mark J.M., Am. Inst. Of Physics, New York 1997.