Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)

• Autorzy: Kruk T.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia sił atomowych; AFM; mikroskop AFM

EN

atomic force microscopy (AFM); AFM; AFM microscope

• Wydawca: Roble Sp. z o.o.
• Czasopismo: LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 18, nr 1
• Strony: 40--50
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz.

Twórcy

autor

Kruk T.

• Instytut Katalizy i Fizykochemii Powierzchni im. Jerzego Habera PAN w Krakowie,

Bibliografia

• [1] Binning C. i in.: Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 930
• [2] Binning C., Rohrer H.:Helv. Phys. Acta. 1982, 55, 727
• [3] Albrecht T. R. i in.: J. Appl. Phys. 1991, 69, 668
• [4] Prater C. B. I in.: Tapping Mode Imaging: Applications and Technology. Santa Barbara, Digital Instruments 1997
• [5] Barr T. L. i in.: J. Electron Spectr. Relat. Phenom. 1999, 98-99, 95
• [6] Butt H. J.: Biophys. J. 1991, 60, 1438
• [7] Kelly M. A.: J. Electron Spectr. Relat. Phenom. 1999, 98-99, 55
• [8] R.W. Kelsall, I.W Hamley, M. Geoghegan, „Nanotechnologie”
• [9] http://www.nanotech.3-2-1.pl/joomla/index.php?/content/view/85/52/
• [10] http://www.itg.uiuc.edu/exhibits/gallery/AFMgallery.htm
• [11] http://www.pacificnanotech.com/gallery.html