PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Nadzór nad wyposażeniem pomiarowo-kontrolnym

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Supervision of measuring and control equipment
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule omówiono zagadnienia nadzoru nad wyposażeniem do kontroli, pomiarów i badań. Przedstawiono zadania jakie należy spełnić w celu prawidłowej realizacji tego nadzoru. Omówiono zarządzanie wyposażeniem do kontroli, pomiarów i badań w systemie zapewnienia jakości. Rozważono możliwości wspomagania komputerowego dotyczącego nadzorowania wyposażenia do kontroli, pomiarów i badań.
EN
Problems connected with the supervision of measuring and control equipment are discussed. The requirements which must be met to ensure proper supervision are specified. The management of control, measuring and testing devices in a quality control system is described. Computer-aided supervision of such equipment is considered.
Czasopismo
Rocznik
Strony
110--130
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz.
Twórcy
autor
  • Politechnika Poznańska, Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych
autor
  • Politechnika Poznańska, Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych
Bibliografia
  • [1] BERDOWSKI J., POLATOWSKI P., Wymagania normy PN-ISO 9001 w zakresie nadzoru nad wyposażeniem do kontroli, pomiarów i badań. III Sympozjum „Metrologia w systemach jakości”, Polanica Zdrój 1996.
  • [2] CHAJDA J., GAZDECKI A., Możliwości sterowania procesami i jakością przy wykorzystaniu systemu SPC. VIII Krajowa Konferencja Metrologii, Warszawa 1995, tom II, ss. 323-332.
  • [3] GAWLIK J., REWILAK J., Nadzorowanie środków kontrolno-pomiarowych w warunkach SPC. VII Konferencja „Metrologia w technikach wytwarzania maszyn”, Kielce 1997, tom II, ss. 219-226.
  • [4] IGLANTOWICZ T., Zagadnienie zarządzania i zapewnienia jakości w procesach specjalnych. VII Konferencja „Metrologia w technikach wytwarzania maszyn”, Kielce 1997, tom II, ss. 337-342.
  • [5] KRODKIEWSKA-SKOCZYLAS E., Akredytacja laboratoriów pomiarowych i badawczych w Polsce. VII Konferencja „Metrologia w technikach wytwarzania maszyn”, Kielce 1997, tom II, ss. 321-328.
  • [6] MICHALIK A., MACIEJEWSKI J., Spójność pomiarowa - co to oznacza? III Sympozjum „Metrologia w systemach jakości”, Polanica Zdrój 1996.
  • [7] TICHY M., O niektórych terminach metrologicznych. III Sympozjum „Metrologia w systemach jakości”, Polanica Zdrój 1996.
  • [8] Praktyczne zarządzanie jakością. Alfa WEKA, Warszawa 1997.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-LODA-0001-0041
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.