Direct current electric field induced deformations of dielectric ally isotropic flexoelectric nematic layers

• Autorzy: Derfel G. , Buczkowska M. , Pietrzyk B.

Warianty tytułu

PL

Deformacje warstw izotropowego dielektrycznie nematyka fleksoelektrycznego wywołane stałym polem elektrycznym

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Deformations of nematic layers induced by d.c. electric field were studied numerically. The nematic liquid crystal under consideration possessed flexoelectric properties. Its dielectric anisotropy was zero, so the deformations were solely of flexoeleclric nature. The threshold voltages for deformations were calculated for nematics with very low, moderate and high ion content. In the case of weak flexoelectric properties, the predicted threshold voltage reached c. 100V in pure material. It decreased strongly with increasing ion content and reached values much lower than the theoretical values calculated for the perfectly insulating material. The director distributions in deformed stales were also determined. Four kinds of director profiles were distinguished.

PL

Zbadano numerycznie wywołane polem elektrycznym odkształcenia warstw nematyków posiadających właściwości fleksoelektryczne, lecz pozbawionych anizotropii dielektrycznej. Obliczono napięcia progowe na odkształcenie. Wzięto pod uwagę niską, średnią i wysoką koncentrację jonów. Napięcia progowe przewidywane dla nematyków o wysokiej czystości sięgały 100V. Napięcia progowe malały silnie ze wzrostem zawartości jonów. Określono także rozkłady direktora w warstwie. Wyróżniono cztery rodzaje rozkładów charakterystyczne dla niskiej, średniej i wysokiej koncentracji jonów.

Słowa kluczowe

EN

flexoelectricity; nematics; deformations

PL

fleksoelektryczność; nematyk; odkształcenia

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Scientific Bulletin. Physics / Lodz University of Technology
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 32
• Strony: 5--12
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz.

Twórcy

autor

Derfel G.

autor

Buczkowska M.

autor

Pietrzyk B.

• Institute of Physics, Technical University of Łódź, ul. Wólczańska 219, 90-924 Łódź, Poland,

Bibliografia

• [1] Derfel G., Buczkowska M., Liq. Cryst., 32 (2005) 1183.
• [2] Buczkowska M., Derfel G., Liq. Cryst., 32 (2005) 1285.
• [3] Derfel G., Buczkowska M., Liq. Cryst., 34 (2007) 113.
• [4] Buczkowska M., Derfel G., Sci. Bull. Tech. Univ. Lodz, No. 1030, Physics, 29 (2008) 5.
• [5] Buczkowska M., Grzelczak K., Sci. Bull. Tech. Univ. Lodz, No. 1057, Physics, 30 (2009) 5.
• [6] Buczkowska M., Machlowski M., Sci. Bull. Tech. Univ. Lodz, No. 1082, Physics, 31 (2010) 5.
• [7] Buczkowska M., Liq. Cryst., 37 (2010) 1331.
• [8] Buczkowska M., Derfel G., Opto-Electronics Review, 19 (2011) 56.
• [9] Kashnow R.A., Cole H.S., Mol. Cryst. Liq. Cryst., 23 (1973) 329.
• [10] Derzhanski A., Petrov A.G., Mitov M.D., J. Phys. (Paris) , 39 (1978) 273.
• [11] de Vleeschouwer H., Verschueren A., Bougriona F., Van Asselt R., Alexander E., Vermael S., Neyte K., Pauwels H., Jpn. J. Appl. Phys., 40 (2001) 3272.
• [12] Derfel G., J. Mol. Liq., 144 (2009) 59.