Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Analiza zjawisk optycznych w krawędziowych laserach półprzewodnikowych metodą efektywnego współczynnika oraz metodą linii
Języki publikacji
Abstrakty
The paper is concerned with the application of the Method of Effective Index (MEI) and the Method of Lines (MoL) to the analysis of optical phenomena in the edge emitting (in-plane) diode lasers. The fields and the intensity of the fundamental mode achieved using MEI and MoL are presented.
W niniejszej pracy przedstawiono podstawy teoretyczne dwu metod analizy zjawisk optycznych w laserach półprzewodnikowych. Metoda efektywnego współczynnika załamania jest metodą uproszczoną dającą jako rozwiązanie jedną składową pola elektrycznego fali elektro-magnetycznej, jednocześnie dzięki swej prostocie metoda ta jest bardzo szybka. Metoda linii pozwala na znalezienie pełnego rozwiązania problemu, jednakże wymaga większego nakładu obliczeń. Przedstawiono rozwiązania problemu propagacji fali w standardowym laserze krawędziowym przy użyciu obu metod. Obie metody dały zadowalająco zbieżne wyniki. Analizując działanie bardziej złożonych struktur, zwłaszcza o bardzo małych rozmiarach, należy jednakże użyć przedstawianą tu metodę linii, która jest metodą w pełni wektorową.
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
31--38
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz.
Twórcy
autor
- Institute of Physics, Technical University of Łódź, 93-005 Łódź, Wólczańska 219/223, Poland, czyszam@ck-sg.p.lodz.pl
Bibliografia
- [1] Chiang K.S., Applied Optics, 25, 348 (1986).
- [2] Bergmann M.J., Casey H.C., J. Appl. Phys., 84 1196 (1998)
- [3] Pregla R., Pascher W., Numerical Techniques for microwave and millimetre wave passive structures, T. Itoh, ed. (Willey, New York, 1989), Chapter VI
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-LOD7-0022-0042