Dielectric properties of antiferroelectric liquid crystal (Cl)MHPOBC

• Autorzy: Wojciechowski M. , Gromiec A.L.

Warianty tytułu

PL

Dielektryczne własności (Cl)MHPOBC

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The dielectric spectroscopy, in frequency range 10-² ÷ 105 HZ, was used to obtained the dielectric characteristics of chloride analogous well know MHPOBC antiferroelectric liquid crystal compound. This compound have a rich phase sequence antiferroelectric, ferroelectric, SmA phases and SmC*α, SmC*γ subphases. One molecular and one collective molecular motion were observed and analysed.

PL

W pracy przedstawiono dielektryczne charakterystyki antyferroelektrycznego ciekłego kryształu będącego chlorowanym analogiem MHPOBC. Badania przeprowadzono w obszarze częstości 10-² ÷ 105 HZ. Zarejestrowano dwa procesy relaksacyjne: w fazie antyferroelektrycznej związany z obrotem cząsteczki względem krótkiej osi o energii aktywacji EA=1.09eV, w fazie ferroelektrycznej związany z kolektywnym ruchem cząsteczek, tzw. mod Goldstona. Do opracowania pików stratności dielektrycznych zastosowano równanie Havriliaka-Negami. Otrzymano temperaturowe zależności inkrementu dielektrycznego i czasu relaksacji charakteryzujące wymienione procesy relaksacyjne.

Słowa kluczowe

EN

antiferroelectric liquid crystals; dielectric properties; molecular mode; Goldstone mode

PL

ciekłe kryształy antyferroelektryczne; właściwości dielektryczne; mod molekularny; mod Goldstone'a

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Scientific Bulletin. Physics / Lodz University of Technology
• Rocznik: 2002
• Tom: Vol. 22
• Strony: 107--116
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz.

Twórcy

autor

Wojciechowski M.

• Institute of Physics, Technical University of Łódź, 93-005 Łódź, Wólczańska 219/223, Poland

autor

Gromiec A.L.

• Institute of Physics, Technical University of Łódź, 93-005 Łódź, Wólczańska 219/223, Poland

Bibliografia

• [1] Kremer F., Dielectric Spectroscopy of Polymer Materials, Fundamentals and Application, 421, J.P.Runt, J.J.Fitzgerald (eds.), Washington, 1997.
• [2] Gouda F., Sharp K., Lagerwall S.T., Ferroelectrics 113. 165 (1991)
• [3] Buivydas M., Gouda F., Lagerwall S.T., Stebler B., Liq.Cryst. 18, 879 (1995)
• [4] Hou J., Schat J., Giebelmann F., Zugenmaier P., Liq.Cryst., 22,409 (1997)
• [5] Fąfara A., Marzec M., Wróbel S., Dąbrowski R., Haase W., IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 8,477 (2001)
• [6] Schlauf D., Bahr Ch., Phys.Rev. E, 60, 6816 (1999)
• [7] Fąfara A., Marzec M., Wróbel S., Haase W., Dąbrowski R., SPIE 4759, 151 (2002)
• [8] Wojciechowski M., Gromiec L.A., Bąk G.W., J. Mol. Liq. 86, 269-272 (2000)
• [9] Sawada A., Tanimi К., Naemura S., Jap. J. Appl. Phys. 38, 1418 (1999)