Metody badania powierzchni cd.

• Autorzy: Sarbak Z.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

spektroskopia jonów rozproszonych; ISS; spektrometria masowa jonów wtórnych; SIMS; metody badań

EN

ion scattering spectroscopy; ISS; secondary ion mass spectrometry; SIMS; research methods

• Wydawca: Roble Sp. z o.o.
• Czasopismo: LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
• Rocznik: 2003
• Tom: R. 8, nr 3
• Strony: 12--15
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz.

Twórcy

autor

Sarbak Z.

• Kierownik Pracowni Adsorpcji i Katalizy w Ochronie Środowiska, Wydział Chemii, Uniwersytet im. Adama Mickiewicza, ul. Grunwaldzka 6, 60-780 Poznań,

Bibliografia

• [1] Oleś A., Metody doświadczalne fizyki data statego. Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa 1998.
• [2] Taglauer E., Kohl A., Eckstein W., Beikler R. J. Mol. Catal. A, 162 (2000) 97.
• [3] Wu M Hercules D. M J. Phys. Chem., 83 (1979) 2003.
• [4] Ott C. L., Delgass W. N Winograd N Baitinger W. E J. Catal., 56 (1979) 174.
• [5] Matolin V., Masek K Elyakhloufi M. H Gillet E J. Catal., 143 (1993) 492.
• [6] Van Hardeveld R. M., Van Santen R. A., Niemantsverdriet J. W., J. Phys. Chem. B, 101 (1997) 998.
• [7] Albers P., Deller K., Despeyroux В. M., Schafer A., Seibold K. J. Catal., 133 (1992) 467.
• [8] Paryjczak T., Szynkowska M. I., Przem. Chem., 82 (2003) 199.
• [9] Zhon, Y., Wood M. C., Winograd N. J., Catal., 146 (1994) 82.
• [10] Randon S., Wilkinson W. R., Proctor A., Houalla M., Hercules D. M. J. Phys. Chem., 99 (1995) 16709.