Technika cienkiej warstwy w spektrometrii podczerwieni i jej zastosowania

• Autorzy: Harmasz J.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Spektrometria podczerwieni znajduje obecnie bardzo duże zastosowanie zarówno w laboratoriach naukowych, jak i przemysłowych, medycznych, a także związanych z ochroną środowiska. Tradycyjna technika w roztworze, z zastosowaniem wiązki niespolaryzowanej jest stosowana głównie do ustalania grup funkcyjnych i struktury związków. Technika pomiarowa tzw. technika cienkiej warstwy, z jednoczesnym zastosowaniem wiązki spolaryzowanej, daje zupełnie nowe możliwości wykorzystania spektrometrii IR.

Słowa kluczowe

PL

technika cienkiej warstwy; spektrometria podczerwieni

EN

thin-film technique; infrared spectrometry

• Wydawca: Roble Sp. z o.o.
• Czasopismo: LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
• Rocznik: 2003
• Tom: R. 8, nr 3
• Strony: 9--11
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz.

Twórcy

autor

Harmasz J.

Bibliografia

• 1. Kocot A., Vij J. K., Perova T. S., Advances in Liquid Crystals: A Special Volume Of Advances in Chemical Physics, Wyd. Vij J. K., 113, str. 203.
• 2. Kim K. H., Ishikawa K., Takezoe H., Fukuda A., Physical Review E, 51(3) (1995) 2166.
• 3. Kocot A., Kruk G., Wrzalik R., Vij J. K., Liq. Cryst., 12(6) (1992) 1005.
• 4. Miyachi K., Matsushima J., Takanishi Y., Ishikawa K., Takezoe H., Fukuda A., Physical Review E, 52(3) (1995) R2153.
• 5. Tykarska M., Harmasz J., referat z krajowej konferencji Szkota Fizykochemii Organicznej (2002).