On the contribution of the quadratic electrooptic effect to the nonlinear response proportional to the fourth power of modulating field

• Autorzy: Izdebski M. , Kucharczyk W.

Warianty tytułu

PL

Pozorny elektrooptyczny efekt czwartego rzędu mający swoje źródło w kwadratowym efekcie elektrooptycznym

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

It is shown that the fourth-order electrooptic effect cannot be measured without a background of the contribution that is proportional to the square of the quadratic electrooptic coefficient. The contribution manifests on the fourth power of the modulating field and may be calculated. Thus, if the contribution is found to be comparable with the measured fourth-order electrooptic response, this apparent fourth-order effect should be taken into account in the interpretation ofthe results of the measurement.

PL

Pokazano, że prawdziwemu efektowi elektrooptycznemu czwartego rzędu zawsze towarzyszy efekt pozorny, mający swoje źródło w efekcie kwadratowym. Dotychczas zaniedbywany wkład pozornego efektu można obliczyć i jeśli jest on porównywalny z mierzoną odpowiedzią przypisywaną efektowi elektrooptycznemu czwartego rzędu, należy go uwzględnić przy interpretacji wyników pomiarów.

Słowa kluczowe

EN

quadratic electrooptic effect; fourth-order electrooptic effect

PL

kwadratowy współczynnik elektrooptyczny; elektrooptyczny efekt czwartego rzędu

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Scientific Bulletin. Physics / Lodz University of Technology
• Rocznik: 2007
• Tom: Vol. 28
• Strony: 9--12
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz.

Twórcy

autor

Izdebski M.

autor

Kucharczyk W.

• Institute of Physics, Technical University of Łódź

Bibliografia

• [1] Meyerhofer D.: Phys. Rev. 112 (1958) 413.
• [2] Perfilova V.E., Sonin A.S.: Izv. Akad. Nauk SSSR, Ser. fiz. 31 (1967) 1136.
• [3] Perfilova V.E., Sirotin Yo, Sonin A.S.: Kistallografiya 14 (1967) 157.
• [4] Sonin A.S., Vasilevskaya A.S.: Electrooptic Crystals (in Russian), Atomizdat,Moscow 1971.
• [5] Jamroz W., Karniewicz J.: Opt. Quant. Electron. 11 (1979) 23.
• [6] Górski P., Kucharczyk W.: Phys. stat. sol. (a) 121 (1990) K243.
• [7] Gunning M.J., Kucharczyk W., Raab R.E.: J. Opt. Soc. Amer. B 18 (2001) 1092.
• [8] Izdebski M., Kucharczyk W., Raab R.E.:J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 6 (2004) 421.
• [9] Izdebski M., Kucharczyk W., Raab R.E.:J. Opt. Soc. Amer. A 19 (2002) 1417.
• [10] Izdebski M., Kucharczyk W., Raab R.E.: J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 5,(2003) 147.
• [11] Izdebski M., Kucharczyk W.: Optica Applicata-33 (2003) 213.
• [12] Izdebski M., Kucharczyk W., Raab R.E.: J. Opt. Soc. Amer. A 21 (2004) 132.
• [13] Górski P., Ledzion R., Kucharczyk W.: Cryst. Res. Technol. 42 (2007) 613.
• [14] Jamroz W., Karniewicz J., Kucharczyk W.: J. Phys. D: Appl. Phys. 11 (1978) 2625.
• [15] Landolt-Bornstein, Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology, New Series, Group III, vol. 11, Eds K.H. Hellwege and AM. Hellwege,.Springer, Berlin 1979.