Pomiar cętek w masach makulaturowych za pomocą analizy obrazu ze skanera

• Autorzy: Klein R. , Schulze U.

Warianty tytułu

EN

Measuring the sizes of specks and spots in paper using an analysis of the scanner image

• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

masa makulaturowa; papier; analiza obrazu; skaner; cętka; białość

EN

wastepaper; paper; image analysis; scanner; speck; whiteness

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Papierniczy
• Rocznik: 2004
• Tom: R. 60, nr 3
• Strony: 133--138

Twórcy

autor

Klein R.

autor

Schulze U.

• Papiertechnische Stiftung, Pirnauer STR. 37, D-01809 Heidenau, RFN