Metrologia w nanoskali w zastosowaniach biomedycznych i technologicznych

• Autorzy: Grobelny J.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

metrologia; nanocząsteczki; adhezja; nanotechnologia

EN

metrology; nanoparticles; adhesion; nanotechnology

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Rozprawy Naukowe / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 2009
• Tom: Z. 378
• Strony: 6--104
• Opis fizyczny: Bibliogr. 38 poz.

Twórcy

autor

Grobelny J.

• Katedra Technologii Chemicznej i Ochrony Środowiska Uniwersytet Łódzki,

Bibliografia

• 1 H. S. Halwa (editor), Handbook of Nanostructured Materials and Nanotechnology, Academic Press (2000)
• 2 A. Korkin, E. Gusev, J. K. Labanowski, S. Luryi (editors), Nanotechnology for Electronic Materials and Devices, Springer (2006)
• 3 G. Schmid (editor), Nanoparticles From Theory to Application, Wiley-VCH (2004)
• 4 D. B. Warheit, Materials Today, 7, 32 (2004)
• 5 M. C. Daniel, D. Astruc, Chem. Rev. 104, 293 (2004)
• 6 A. de Lazzer, M. Dreyer, H. J. Rath, Langmuir 15, 4551 (1999)
• 7 S. M. Gatica, M. W. Cole, D. Velegol, Nano Lett. 5, 169 (2005)
• 8 J. Panyam, V. Labhasetwar, Adv. Drug Deliv. Rev. 55, 329 (2003)
• 9 G. F. Paciotti, D. G. I. Kingston, L. Tamarkin, Drug Dev. Res. 67, 47 (2006)
• 10 M. Ferrari, Nat. Rev. Cancer 5, 161 (2005)
• 11 Y. Lin, A. Böker, J. He, K. Sill, H. Xiang, C. Abetz, X. Li, J. Wang, T. Emrick, S. Long, Q. Wang, A. Balazs, T. P. Russell, Nature 434, 55 (2005)
• 12 D. Burris, W. G. Sawyer, Wear 260, 915 (2006)
• 13 K. K. Nanda, A. Maisels, F. E. Kruis, H. Fissan, S. Stappert, Phys. Rev. Lett. 91, 106102 (2003)
• 14 O. H. Pakarinen, A. S. Foster, M. Paajanen, T. Kalinainen, J. Katainen, I. Makkonen, J. Lahtinen, R. M. Nieminen, Modelling Simul. Mater. Sci. Eng. 13, 1175 (2005)
• 15 J. F. R. Kerr, C. M. Winterford, B. V. Harmon, Cancer 73, 2013 (1994)
• 16 G. Kong, R. D. Braun, M. W. Dewhirst, Cancer Res. 60, 4440 (2000)
• 17 J. N. Israelachvili, Intermodular and Surface Forces, Academic Press (1992)
• 18 E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip, Springer-Verlag (2004)
• 19 W. W. Gerberich, M. J. Cordill, Rep. Prog. Phys. 69, 2157 (2006)
• 20 R. Budakien, S. J. Putterman, Appl. Phys. Lett. 81, 2100 (2002)
• 21 J. Loos, Adv. Mater. 17, 1821 (2005)
• 22 Z. C. Ying, M. G. Reitsma, R. S. Gates, Rev. Sci. Instrum. 78, 63708 (2007)
• 23 J. P. Cleveland, S. Manne, D. Bocek, P. K. Hansma, Rev. Sci. Instrum. 64, 403 (1993)
• 24 J. E. Sader, J. W. M. Chon, P. Mulvaney, Rev. Sci. Instrum. 70, 3967 (1999)
• 25 A. W. McFarland, J. S. Colton, J. Micromech. Microeng. 15, 1060 (2005)
• 26 R. S. Gates, M. G. Reitsma, Rev. Sci. Instrum. 78, 86101 (2007)
• 27 J. D. Holbery, V. L. Eden, M. Sarikaya, R. M. Fisher, Rev. Sci. Instrum. 71, 3769 (2000)
• 28 M. Chhowalla, G. A. Amaratunga, Nature 407, 164 (2000)
• 29 G. X. Shen, Y. C. Chen, c. J. Lin, Thin Solid Films 489, 130 (2005)
• 30 R. A. McMillan, C. D. Paavola, J. Howard, S. L. Chan, N. J. Zaluzee, J. D. Trent, Nat. Mater. 1, 247 (2002)
• 31 K. Ogawa, T. Vogt, M Ullmann, S. Johnson, S. K. Friedlander, J. Appl. Phys. 87, 63 (2000)
• 32 J. E. Mark, F. R. Eirich, B. Erman (editors), Science and Technology of Rubber, Academic Press (1994)
• 33 D. Maugis, B. Gauthier-Manuel, J. Adhes. Sci. Technol. 8, 1311 (1994)
• 34 P. E. Marszalek, W. J. Greenleaf, H. Li, A. F. Oberhauser, J. M. Fernandez, PNAS 97, 6282 (2000)
• 35 R. Van Gastel, E. Somfai, W. Van Saarloos, J. W. M. Frenken, Nature 408, 665 (2000)
• 36 M. Shimomura, T. Sawadaishi, Curr. Opinion Coll. Interface Sci 6, 11 (2001)
• 37 C. Vieu, F. Carcenac, A. Pepin, Y. Chen, M. Mejias, A. Lebib, L. Manin-Ferlazzo, L. Couraud, H. Launois, Appl. Surf. Sci. 164, 111 (2000)
• 38 C. N. R. Rao, G. U. Kulkarni, P. J. Thomas, P. P. Edwards, Chem. Soc. Rev. 29, 27 (2000)