Symulacja pracy układów cyfrowych z uwzględnieniem efektów SEU

• Autorzy: Grecki M.
• Konferencja: Konferencja Katedry Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Mikorzyn 2005
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule została zaprezentowana metoda uwzględnienia efektów SEU w symulacji układów cyfrowych modelowanych za pomocą języka VHDL. Przedstawiono bibliotekę funkcji i procedur SEUSIM realizujących obliczenia prawdopodobieństwa wystąpienia efektu SEU oraz zasady opisu modelu uwzględniającego występowanie SEU.

Słowa kluczowe

PL

efekt SEU; układ cyfrowy

EN

SEU; single event effects; digital circuits

• Wydawca: Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Mikroelektronika i Informatyka : prace naukowe
• Rocznik: 2005
• Tom: Z. nr 5
• Strony: 221--224
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz.

Twórcy

autor

Grecki M.

• Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych. Politechnika Łódzka

Bibliografia

• [1] Messenger G.C., Ash M.S.: „The Effects of Radiation on Electronic Systems", Van Nostrand Reinhold Company, New York, 1986
• [2] Peterson R. „Radiation-induced errors in memory chips", Brazilian Journal of Physics, vol. 33, no. 2, pp. 246-249, June 2003
• [3] Turowski M., Raman A., Mostrom M.: „Analysis of Ion-Strike Effects In Deep Submicron CMOS Devices" , 12th Int. Conf. MIXDES 2005, pp. 291-296, 2005.
• [4] Habinc S. & all: "Functional Triple Modular Redundancy (FTMR). VHDL Design Methodology for Redundancy in Combinatorial and Sequential Logic", EUROPEAN SPACE AGENCY, Design and Assessment Report December 2002