Wpływ promieniowania neutronowego na pracę komputera PC

• Autorzy: Świercz B. , Makowski D.
• Konferencja: Konferencja Katedry Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Mikorzyn 2005
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł opisuje wpływ promieniowa- nia na pracę komputerów opartych o architekturę PC. Komputer został poddany oddziaływaniu promieniowa- nia neutronowego pochodzącego ze źródła 241 AmBe oraz w komorze akceleratora LINA C II w DESY.

Słowa kluczowe

PL

wpływ promieniowania neutronowego; komputer PC

EN

effect of neutron radiation; PC computer

• Wydawca: Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Mikroelektronika i Informatyka : prace naukowe
• Rocznik: 2005
• Tom: Z. nr 5
• Strony: 203--209
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz.

Twórcy

autor

Świercz B.

• Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych. Politechnika Łódzka

autor

Makowski D.

• Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych. Politechnika Łódzka

Bibliografia

• [1] A. Schwarz, „The European X-Ray free electron laser project at DESY", 26 International Free-Electron Laser Conference, pp. 85-89, Sierpień 2004.
• [2] W. Shi, „SASE X-Ray Free Electron Laser In DESY", Journal of the Society of Chinese Physists, vol. 6, pp. 5 -16, Grudzień 2000.
• [3] R. Brinkmann, K. Flottmann, J. Roβbach, P. Schmuser, N. Walker, H. Weise, „TESLA Technical Design Report - The Accelerator, part II", DESY, 2001.
• [4] G. Materlik, T. Tschentscher, "TESLA Technical Design Report - The X-Ray Free Electron Laser, PART V", DESY, 2001.
• [5] D.Makowski, M. Grecki, B. Mukherjee, B. Świercz, S. Simrock, „Radiation Tolerant System for Neutrons Measurement", 12 Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, MIXDES, lipiec 2005.
• [6] G. Messenger, M. Ash, „The Effects of Radiation on Electronic Systems", ISBN 0-442-25417-2. Van Nostrand Reinhold Company Inc., 1986.
• [7] R. Peterson, „Radiation-induced errors in memory chips", Brazilian Journal of Physics, vol. 33, nr 2, pp. 246-249, czerwiec 2003.
• [8] F. Giustino, „Radiation Effects on Semiconductor Devices", rozprawa doktorska, Politecnico di Torino, Marzec 2001.
• [9] D.M. Fleetwood, H. A. Eisen, „Total-dose radiation hardness assurance", Nuclear Science, IEEE Transactions, vol. 50, pp. 552- 564, czerwiec 2003.
• [10] D. Makowski, B. Świercz, M. Grecki, A. Napieralski, "Projektowanie systemów niewrażliwych na wpływ promieniowania na potrzeby akceleratora X-FEL", Elektronika - Konstrukcje, Technologie, Zastosowania, nr 7/2005.
• [11] B. Świercz, „Mikrojądro systemu czasu rzeczywistego", praca magisterska, Politechnika Łódzka, 2004.
• [12] B. Świercz, D. Makowski, A. Napieralski, "The sCore - Operating System for Research of Fault-Tolerant Computing", 12 Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, MIXDES, lipiec 2005.
• [13] B. Świercz, D. Makowski, A. Napieralski, "IAradSim - IA32 architecture under high radiation environment simulator", 2005 NSTI Nanotechnology Conference and Trade Show, Nanotech 2005, Smart Sensors and Systems.