Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Konferencja
Konferencja Katedry Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Mikorzyn 2005
Języki publikacji
Abstrakty
Artykuł zawiera opis modelowania udarowych zaburzeń impulsowych (Surge) w języku VHDL-AMS. Powstanie opisanych niżej modeli jest początkiem większych badań wpływu zaburzeń impulsowych na wybrane struktury scalone. Celem badań jest dostarczenie projektantom układów scalonych, bibliotek modeli źródeł zaburzeń impulsowych oraz elementów zabezpieczających typowe układy przed zaburzeniami przewodzonymi.
Rocznik
Tom
Strony
11--14
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz.
Twórcy
autor
- Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych. Politechnika Łódzka
Bibliografia
- [1] PN-EN 61000-4-5:1998 "Kompatybilność elektromagnetyczna (EMC). Metody badań i pomiarów. Badanie odporności na udary.
- [2] A. Sowa, Poziomy odporności udarowej urządzeń elektrycznych i elektronicznych.
- [3] L. Hasse, J. Kołodziejski, A. Konczakowska, L. Spiralski, Zakłócenia w aparaturze elektronicznej, Warszawa 1995.
- [4] IEEE Standard VHDL Language Reference Manual.
- [5] Analog and Mixed-Signal Modeling Using the VHDL-AMS Language, 36th Design Automation Conference, New Orleans, June 21-25, 1999.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-LOD4-0002-0034