Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Instruments for Quality Control of Offset Plates
Języki publikacji
Abstrakty
Rozpowszechnienie się technologii computer-to-plate we współczesnej przygotowalni wymaga zastosowania nowych metod kontroli jakości form drukowych. W pracy przeanalizowano kilka metod oznaczania stopnia krycia: - obliczeniową, w oparciu o średnicę punktu rastrowego; - densytometryczną; - z zastosowaniem wideomikroskopów. Wyższą dokładność wyników uzyskano przy zastosowaniu wideomikroskopów.
The new quality control methods for printing forms should be applicated to disseminate the computer-to-plate technology in a modern prepress. A few methods of area coverage determination is analysed: - computational, basing on screen dot diameter; - densitometry; - videomicroscopy. The best results are obtained with videomicroscopy.
Słowa kluczowe
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
105--108
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz.
Twórcy
autor
autor
autor
- Instytut Papiernictwa i Poligrafii, Politechnika Łódzka, ul. Wólczańska 219/223, 93-005 Łódź
Bibliografia
- 1. Czichon H., Czichon M.: "Technologia offsetowych form drukowych", Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2002.
- 2. Haftman H.: "Podstawy techniki pomiarowej dla poligrafów", Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa 1983.
- 3. "Densytometr czy yideomikroskop?", Print&Publishing nr 41, s. 52-54 (2000).
- 4. Materiały firm: Techkon, Yiptronic, X-Rite, GretagMacbeth.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-LOD2-0005-0004