Kompatybilność elektromagnetyczna układów scalonych - metody badań emisji i odporności, propozycje dotyczące modelowania

• Autorzy: Kołodziejski J. F.

Warianty tytułu

EN

Electromagnetic compatibility of integrated circuits - testing methods of emission and immunity, proposals of modeling

• Konferencja: Krajowe Sympozjum : Kompatybilność Elektromagnetyczna w Elektrotechnice i Elektronice EMC'03 (III ; 2003 ; Łódź, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Prace prowadzone w IEC przez Grupę Roboczą WG9 w ramach Podkomitetu Technicznego SC 47A Układy Scalone, doprowadziły do opublikowania 5 dokumentów normalizacyjnych opisujących metody pomiarowe emisji zaburzeń elektromagnetycznych z układów scalonych. W pracy przedstawiono krótko opracowane dokumenty i zawarte w nich metody pomiarowe. Więcej uwagi poświęcono tworzonym obecnie normom dotyczącym metod pomiaru odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne promieniowane i przewodzone. W trzeciej części pracy omówiono kwestie dotyczące modelowania układów scalonych, które ma na celu umożliwienie przewidywania i ocenę kompatybilności elektromagnetycznej tych układów, głównie w fazie ich projektowania.

EN

Intensive works conducted inside IEC by the Working Group WG9 of Technical Subcommittee 47A Integrated Circuits, allowed for the elaboration and publication of 5 standard documents (6 regarding the general part) IEC 61967 series, which describe the measurement methods of electromagnetic emissions of integrated circuits. These documents and the covered measurement methods are shortly reviewed in the work. More attention is paid to the currently considered standards embracing the measurement methods of ICs immunity against radiated and conducted electromagnetic disturbances. Among the methods there are following: testing inside TEM and GTEM cells, bulk current injection BCI, direct power injection DPI and testing inside workbench Faraday cage WBFC. Third part of the work is devoted to the problems of modeling of integrated circuits for the purpose of prediction and estimation of electromagnetic compatibility properties of these circuits, mainly at their design phase.

Słowa kluczowe

PL

układy scalone; kompatybilność elektromagnetyczna; modelowanie; klatka Faradaya; komora TEM; metoda BCI

EN

integrated circuits; electromagnetic compatibility; modeling; Faraday cage; TEM cell; BCI method

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 2003
• Tom: z. 100
• Strony: 9--18
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz.

Twórcy

autor

Kołodziejski J. F.

• Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa

Bibliografia

• [1] IEC 61967 cz. 1-6: Seria norm dotyczących metod pomiarów emisji elektromagnetycznej z układów scalonych w zakresie częstotliwości 150 kHz - 1 GHz
• [2] IEC 62132 cz. 1-5: Seria norm dotyczących metod pomiarów odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne w zakresie częstotliwości 150 kHz - 1 GHz (propozycje w rozpatrywaniu)
• [3] F.Fiori: ICs susceptibility: a critical assessment of the test procedures, EMC 2000 International Wroclaw Symposium on Electromagnetic Compatibility, Materiały Sympozjum s. 41-44
• [4] J.F.Kołodziejski: Badania kompatybilności elektromagnetycznej przy zastosowaniu małej klatki Faraday’a, Prace Naukowe „Elektronika” Wydz. Elektrotechniki i Elektroniki Politechniki Łódzkiej zeszyt 6, Łódź 2001 s. 57-74
• [5] J.F.Kołodziejski: Nowe metody badań kompatybilności elektromagnetycznej urządzeń i układów elektronicznych, II Krajowe Sympozjum „Kompatybilność elektromagnetyczna w elektrotechnice i elektronice”, Łódź 4-5.10.2001; Zeszyty Naukowe Politechniki Łódzkiej „Elektryka” 2001 nr 880, s. 9-20
• [6] J.F.Kołodziejski, J.Szczęsny: Testing of integrated circuits to electromagnetic disturbances, ICC’02 International Carpathian Conference on Electromagnetic Compatibility, Rzeszów- Łańcut 19-20.09.2002, Materiały Konferencji s. 1.2-1-1.2-6
• [7] В.Ross: IBIS and ICEM, EMC COMPO 2002 3rd International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Toulouse France 14-15.11.2002, Proc. p. 10-13
• [8] . French Committee UTE 47A EMC Task Force: Cookbook for Integrated Circuit Model ICEM, project, version 1.f 2002