Wzorcowanie aparatury do pomiarów wielkości elektrycznych, temperatury i ciśnienia w akredytowanym laboratorium aparatury pomiarowej

• Autorzy: Witkowski R. , Bakoń T. , Szydlik A.

Warianty tytułu

EN

Clibration of measuring instrumentation in the field of the electric values, temperature and preasure measurement in the accredited calibration laboratory

• Konferencja: Międzynarodowa Konferencja Metrologów MKM 2001 (XXXIII ; 10-13.09.2001 ; Łódź-Arturówek, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W referacie zaprezentowano podstawy prawne oraz metodologię postępowania jaką stosuje Laboratorium Aparatury Pomiarowej Instytutu Energetyki podczas wzorcowania i uwierzytelnienia przyrządów pomiarowych w ramach akredytacji Głównego Urzędu Miar. Ponadto przedstawiono uniwersalny system pomiarowy, który powstał z myślą pokazania szerokich możliwości, jakie daje wykorzystanie w pomiarach karty zbierania danych oraz komputera przenośnego typu notebook.

EN

In this report the legislative basis and methodology used in the Calibration Laboratory in Institute of Power Engineering during calibration or verification the measurement equipment wihin the limits of accreditation by Central Office of Measurement are disscused. Furhermore a universal measurement system on the base of PCMCIA DAQ-card and the mobile type "notebook" computer is presented.

Słowa kluczowe

PL

wzorcowanie; przyrządy pomiarowe; akredytacja laboratoriów; laboratorium wzorcujące

EN

calibration; measuring instruments; laboratory acreditation; calibration laboratory

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 2001
• Tom: z. 98
• Strony: 447--456
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz.

Twórcy

autor

Witkowski R.

• Instytut Energetyki, Laboratorium Aparatury Pomiarowej, 02-981 Warszawa, ul.Augustówka 5 tel. [phone] wewn. 240, fax. [phone]

autor

Bakoń T.

• Instytut Energetyki, Laboratorium Aparatury Pomiarowej, 02-981 Warszawa, ul.Augustówka 5 tel. [phone] wewn. 240, fax. [phone]

autor

Szydlik A.

• Instytut Energetyki, Laboratorium Aparatury Pomiarowej, 02-981 Warszawa, ul.Augustówka 5 tel. [phone] wewn. 240, fax. [phone]

Bibliografia

• [1] Międzynarodowy słownik podstawowych i ogólnych terminów metrologii, GUM, Warszawa, 1996.
• [2] Piotrowski J., Kostyrko K.: Wzorcowanie aparatury pomiarowej, PWN, Warszawa 2000.
• [3] Ustawa z dnia 3 kwietnia 1993 r. - Prawo o miarach, Dz. U. Nr 55 z 1993 r., poz. 250.
• [4] Ustawa z dnia 3 kwietnia 1993 r. o utworzeniu Głównego Urzędu Miar, Dz. U. Nr 55 z 1993 r., poz. 247.
• [5] Norma PN-EN 45001-93: Ogólne kryteria działania laboratoriów badawczych.
• [6] Przewodnik ISO/IEC 25: Wymagania ogólne dotyczące kompetencji laboratoriów pomiarowych i badawczych, PKN, Warszawa 1996 oraz Projekt nowelizacji Przewodnika ISO/IEC 25, POLLAB, Warszawa, 1997.
• [7] Norma ISO/IEC FDIS 17025: General Requirements for the Competence of Testing and Calibration Laboratories (tłum. pol. Ogólne wymagania dotyczące kompetencji laboratoriów badawczych i wzorcujących, Biuletyn Informacyjny POLLAB, nr 1 (2000)).
• [8] Norma PrPN-ISO 10012-1: Wymagania dotyczące zapewnienia jakości wyposażenia pomiarowego. Część 1. System potwierdzania metrologicznego wyposażenia pomiarowego.