Podstawowe problemy dokładnego miernictwa wielkości elektrycznych

• Autorzy: Skubis T.

Warianty tytułu

EN

General problems of accurate measurements of electrical quantities

• Konferencja: Międzynarodowa Konferencja Metrologów MKM 2001 (XXXIII ; 10-13.09.2001 ; Łódź-Arturówek, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono charakterystykę dokładnego miernictwa wielkości elektrycznych i przedyskutowano znaczenie podstawowych pojęć tej dziedziny. Omówiono główne podzespoły dokładnych układów pomiarowych zmiennoprądowych oraz wskazano ich obszary zastosowań. Wskazano na znaczenie metody różnicowej w pomiarach dokładnych oraz na rolę krajowych instytutów metrologii. Zwrócono uwagę na znaczenie technologii budowy dokładnych narzędzi pomiarowych oraz przedstawiono jej główne problemy.

EN

Basic problems of accurate measurements of electrical quantities there are presented in the paper. The general terms of this subject are discussed: precision and accuracy. Main subunits of precise AC measurement circuits are pointed out and theirs application fields are shown. The meaning of differential measurement method in accurate metrology and the importance of national metrology institutes there are indicated. The construction technology of precise measurement circuits and its main problems there are discussed in the paper.

Słowa kluczowe

PL

miernictwo wielkości elektrycznych; metoda różnicowa; miernictwo elektryczne

EN

measurements of electrical quantities; differential method; electrical measurements

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 2001
• Tom: z. 98
• Strony: 57--66
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz.

Twórcy

autor

Skubis T.

• Instytut Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Politechniki Śląskiej

Bibliografia

• [1] Conference on Precision Electromagnetic Measurement Digest, Braunschweig, 1996.
• [2] Conference on Precision Electromagnetic Measurement Digest, Washington DC, 1998.
• [3] Conference on Precision Electromagnetic Measurement Digest, Sydney, 2000.
• [4] IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements, od roku 1951, obecnie 4 numery zwykłe i 2 specjalne rocznie.
• [5] Metrologia. Journal BIPM, od roku 1973, obecnie 4 numery zwykłe, 1 konferencyjny i 1 monotematyczny rocznie.
• [6] Podstawowe problemy metrologii. Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, seria: konferencje, nr 1, Gliwice, 1998.
• [7] Podstawowe problemy metrologii. Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, seria: konferencje, nr 4, Gliwice, 2001.
• [8] Proceedings of the 16th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC97, Ottawa, 1997.
• [9] Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC98, Minnesota, 1998.
• [10] [Proceedings of the 18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC99, Wenecja, 1999.
• [11] Proceedings of the 19th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC2000, Baltimore,2000.
• [12] Proceedings of the 20th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC2001, Budapeszt, 2001.