Badania modelowe i analiza błędów systemów pomiarowych

• Autorzy: Gajda J.

Warianty tytułu

EN

Model tests and errors analysis of the measuring systems

• Konferencja: Międzynarodowa Konferencja Metrologów MKM 2001 (XXXIII ; 10-13.09.2001 ; Łódź-Arturówek, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono kryteria i metodę analizy błędów systemów pomiarowych, stosowanych w parametrycznej identyfikacji obiektów. Podstawą metody są badania symulacyjne prowadzone na modelach tych systemów. Proponowana metoda umożliwia również parametryczną optymalizację systemów pomiarowych, rozumianą jako minimalizację wybranego kryterium jakości w wielowymiarowej przestrzeni technicznych parametrów optymalizowanego systemu.

EN

The criteria and errors analysis method of the measuring systems applied in the parametric identification are presented in the paper. The method bases on the simulation tests conducted on these system's models. The proposed method allows also the parametric optimization of the measuring system, mined as a chosen quality criterion minimization in multidimensional space of the technical parameters of optimized system.

Słowa kluczowe

PL

badania modelowe; systemy pomiarowe; modele parametryczne; symulacja; optymalizacja systemów pomiarowych

EN

model tests; measuring systems; parametric models; simulation; optimization of measurement systems

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 2001
• Tom: z. 98
• Strony: 41--56
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz.

Twórcy

autor

Gajda J.

• Akademia Górniczo - Hutnicza, Zakład Metrologii

Bibliografia

• [1] Eykhoff R: System Identification. Parameter and State Estimation. J.Wiley & Sons Ltd, 1974.
• [2] Gajda J.: Optimal Identification of the Flotation Process. 16th IFIP Conference on Systems Modelling and Optimization, Compiegne, 1993.
• [3] Gajda J.: Pakiet do symulacji przyrządów i systemów pomiarowych MISS-1. materiały sympozjum nt.: Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych, Krynica 1993.
• [4] Gajda J., Szyper M., Twardowski T.: Pakiet do symulacji systemów pomiarowych i ich elementów „MISS for Windows. Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych, Krynica 1995.
• [5] Gajda J., Szyper M., Twardowski T.: Pakiet do symulacji systemów pomiarowych oraz ich elementów - procedury optymalizacyjne. I Krajowa Konferencja Użytkowników MATLAB-a, Kraków 1995.
• [6] Gajda J., Szyper M.: Toolbox "MISS for WINDOWS" - Software for Modelling and Simulation of the Measuring Systems and their Elements, materiały konferencyjne 1st Polish - German Workshop: Innovation Through Mechatronics, March 1996, Pęcice, Poland.
• [7] Gajda J.: Mierzalność modeli złożonych obiektów przemysłowych. ZN AGH nr 1407, Kraków, 1991.
• [8] Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement. ISO, 1993.