Wyładowania elektrostatyczne ESD - zagadnienia techniczne i normalizacyjne

• Autorzy: Kołodziejski J. F.

Warianty tytułu

EN

ESD - technical and standardization problems

• Konferencja: Krajowe Sympozjum : Kompatybilność Elektromagnetyczna w Elektrotechnice i Elektronice EMC'05 (IV ; 2005 ; Łódź, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy omówiono skutki występowania statycznych ładunków elektrycznych i wyładowań elektrostatycznych ESD w odniesieniu do elementów i urządzeń elektronicznych. Przedstawiono metody ochrony od elektryczności statycznej i wyładowań ESD, a także stosowane zabezpieczenia wewnątrzukładowe i programowe. Znaczną część pracy poświęcono działaniom normalizacyjnym podejmowanym w Międzynarodowej Komisji Elektrotechnicznej 1EC, a obejmującym opracowanie modeli i metod pomiarowych związanych z wyładowaniami elektrostatycznymi.

EN

The effects of static electrical charges and electrostatic discharges in respect to electronic elements and equipment are reviewed in the work. General prevention methods are presented. Applied on-chip and program protection means are also mentioned. Significant part of the work is devoted to standard activities inside IEC, covering elaboration of some ESD models and measurement methods.

Słowa kluczowe

PL

wyładowania elektrostatyczne; wyładowania ESD; ładunki statyczne; elektryczność statyczna; ochrona urządzeń elektronicznych

EN

electrostatic discharges; ESD discharges; static electrical charges; static electricity; electronic equipment protection; standardization

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 2005
• Tom: z. 103
• Strony: 17--28
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz.

Twórcy

autor

Kołodziejski J. F.

• Instytut Technologii Elektronowej Warszawa, PŁ WEiE

Bibliografia

• [1] J.F. Kołodziejski: Wpływ wyładowań elektrostatycznych na przyrządy półprzewodnikowe. Prace Instytutu Technologii Elektronowej z. 2 1991, 73-112
• [2] E. Piechowski: Ochrona przed elektrycznością statyczną w produkcji sprzętu elektronicznego. Elektronizacja nr 12 1993, 20-22
• [3] J.E. Vinson, J.J.Liou: Electrostatic Discharge in Semiconductor Devices: Protection Techniques. Proc. of the IEEE vol. 88, No. 12, Dec. 2000, 1878-1900
• [4] R.de Leo, F. Mogile, V.M. Primiani: Analyzing ESD Transient Suppressors in Printed Circuits. Compliance Engineering 2001 Annual Reference Guide, 61-66
• [5] J.F. Kołodziejski: Zagrożenia od elektryczności statycznej w przemyśle półprzewodnikowym i stosowane środki zaradcze. Materiały Sympozjum EL-TEX Łódź 2002
• [6] (KKP): Ochrona układów scalonych. Elektronik nr 10 2002, 35-38
• [7] A.Z.H. Wang: On-chip ESD Protection for Integrated Circuits and IC Design Perspective. Kluwer Academic Publishers, 2002
• [8] K. Iniewski: ESD protection and I/O design. ANS'04 International Summer School on Selected Topics in Analog IC Design. Kraków, Sept. 13-18, 2004
• [9] IEC 61340-3-1 Electrostatics - Part 3-1: Methods for simulation of electrostatic effects - Human Body Model (HBM) electrostatic discharge test waveforms
• [10] IEC 61340-3-2 Electrostatics - Part 3-2: Methods for simulation of electrostatic effects - Machine Model (MM) electrostatic discharge test waveforms
• [11] IEC 60749-28, Semiconductor devices- mechanical and climatic test methods- Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing- Charge device model (CDM) measurement methods.