Some aspects of applications of electrooptic effects

• Autorzy: Kucharczyk W. , Nowicz R.

Warianty tytułu

PL

Niektóre aspekty zastosowań efektów elektrooptycznych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

In electrical metrology there are possibilities of using electrooptic and magnetooptic effects for measuring voltage and current in high-tension systems. In the article, a linear and a quadratic electrooptic effect, also known as the Pockels and Kerr effects, occurring in crystals, are described. Values of the quadratic electrooptic coefficient are given for some crystals most often used in high voltage measurements, and an effect of some external factors (e.g. of temperature) on the value of this coefficient are discussed.

PL

W metrologii elektrycznej istnieją możliwości wykorzystania efektów elektrooptycznych i magnetooptycznych do pomiaru napięcia i prądu w sieciach WN. W artykule opisano, występujące w kryształach, liniowy i kwadratowy efekty elektrooptyczne zwane również efektami Pockelsa i Kerra. Podano wartości kwadratowego współczynnika elektrooptycznego dla niektórych kryształów najczęściej stosowanych w pomiarach wysokiego napięcia oraz omówiono wpływ pewnych czynników zewnętrznych (np. temperatury) na wartość tego współczynnika.

Słowa kluczowe

EN

linear electrooptic effect; quadratic electrooptic effect; Pockels effect; Kerr effect; high voltage measurements

PL

efekt elektrooptyczny liniowy; efekt elektrooptyczny kwadratowy; efekt Pockelsa; efekt Kerra; pomiary wysokiego napięcia

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 2006
• Tom: z. 107
• Strony: 5--12
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz.

Twórcy

autor

Kucharczyk W.

autor

Nowicz R.

• Technical University of Łódź, Institute of Physics

Bibliografia

• [1] Kaminov I.P.: An introduction to electrooptic devices, Academic Press, New York and London, 1974.
• [2] Nye J.: Własności fizyczne kryształów, PWN, Warszawa 1962.
• [3] Ledzion R., Bondarczuk K., Górski P., Kucharczyk W.: Cryst. Res. Technol. 34,745, 1999.
• [4] Gunning M.J., Raab R.E., Górski P., Kucharczyk W.: Ferroelectric Lett. 24, 63,1998.
• [5] Gunning M.J., Raab R.E., Kucharczyk W.: Ferroelectric Lett. 28, 93, 2001.
• [6] Kucharczyk W.: Physica B 176, 189, 1992.
• [7] Gunning M.J., Kucharczyk W., Raab R.E.: J. Opt. Soc. Amer. B 18, 1092,2001.
• [8] Izdebski M., Kucharczyk W., Raab R.E.: J. Opt. Soc. Amer. A. 18, 1393, 2001.
• [9] Gunning M.J., Ledzion R., Górski P., Kucharczyk W.: Proc. SPIE 3724, 249, 1999.
• [10] Alexakis G., Theofanous N., Arapoyianni A., Aillarie M., Carabatos-Nedlec C, Fontana M.: Opt. Quantum Electron., 26, 1043, 1994.
• [11] Christensen L.H.: IEEE Trans. Power Delivery, 10, 1332, 1995.