PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

International collaboration of Computer Engineering Department in process tomography field

Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
Współpraca międzynarodowa Katedry Informatyki Stosowanej w dziedzinie tomografii procesowej
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Paper describes Computer Engineering Department (CED) activities in international collaboration in process tomography field. It presents chronologically, the history of transfer of knowledge, incoming and outgoing staff mobility between CED and other European and world tomography research centres. History dates back to beginning of process tomography development research of the CED team in year 2000, when collaboration with Professors Andrzej Pląskowski, Tomasz Dyakowski in tomography field was established. Summarized significant of CED activities in process tomography world is 7th World Congress on Industrial Process Tomography which will organise by CED in 2013.
PL
Artykuł prezentuje obszary współpracy międzynarodowej Katedry Informatyki Stosowanej w dziedzinie tomografii procesowej. Przedstawia chronologicznie przebieg transferu wiedzy zrealizowany przez naukowców wyjeżdżających do znanych i cenionych ośrodków naukowych tomografii procesowej oraz przyjeżdżających do Katedry Informatyki Stosowanej. Informacje obejmują również początkowy okres współpracy z prof. Andrzejem Pląskowskim i prof. Tomaszem Dyakowskim, współpraca z którymi zapoczątkowała badania w dziedzinie tomografii procesowej. Artykuł podsumowuje osiągnięcia Katedry Informatyki Stosowanej w dziedzinie tomografii procesowej, a jednym z nich jest organizacja przez Katedrę 7. Światowego Kongresu Tomografii Procesowej w 2013 roku.
Rocznik
Tom
Strony
55--66
Opis fizyczny
Bibliogr. 16 poz.
Twórcy
autor
  • Wydzial Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Politechniki Łódzkiej
Bibliografia
  • [1] Loser T., Wajman R., Mewes D., 2001: Electrical capacitance tomography: image reconstruction along electrical field lines, Meas. Sci. Technol., Vol. 12, pp. 1083-1091.
  • [2] Mosorov V., Sankowski D., Mazurkiewicz L. and Dyakowski T., 2002, The 'best-correlated pixels' method for solid mass flow measurements using electrical capacitance tomography, Measurement Science and Technology, Vol. 13, No. 12, pp. 1810-1822.
  • [3] Filtr
  • [4] Sankowski D., Mosorow W., Grudzien K., 2003: Statistical Method for Analysis of Multidimensional Tomographic Data. In Proc. IEEE Vll-th CADSM, Lviv-Febr, p.110-112.
  • [5] Atomic agency grant
  • [6] Grudzien K., Romanowski A., Williams R.A., 2005: Application of a Bayesian approach to the tomographic analysis of hopper flow, Particle & Particle Systems Characterization, Volume 22, Issue 4, p.246-253.
  • [7] Wlodzimierz Mosorow, internal CED report from Bergen
  • [8] Jacek Nowakowski, internal CED report from Bergen
  • [9] Zbyszek Chaniecki, internal CED report from Bergen
  • [10] Wlodzimierz Mosorow, internal CED report from Malaysia
  • [11] Marcin Janaszewski, internal CED report from France
  • [12] Grudzien K., Niedostatkiewicz M., Adrien J., Maire E., Sankowski D., 2010: Quantitatively description of the bulk solid concentration changes based on X-ray continuous radiation, Proceedings of 6th World Congress on Industrial Process Tomography, China, Benjing, pp. 464-479.
  • [13] Robert Banasiak, internal CED report from Bath
  • [14] Laurent B about, internal CED report from Manchester
  • [15] Matusiak B., da Silva M. J., Hampel U., Romanowski A.: Measurement of Dynamic Liquid Distributions in a Fixed Bed Using Electrical Capacitance Tomography and Capacitance Wire-Mesh Sensor, Ind. Eng. Chem. Res. No. 49, 2010, pp. 2070-2077.
  • [16] Matusiak B., da Silva M. J., Thiele S., Hampel U.: Experimental Capacitance Planar Array Sensor for Investigating Bed Fluidization and Oil-Water Separation, 6th World Congress on Industrial Process Tomography, Beijing, China, 6-9 September 2010.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-LOD1-0029-0031
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.