Zastosowanie losowych pól Markowa do modelowania i analizy tekstur

• Autorzy: Strzelecki M. , Materka A.

Warianty tytułu

EN

Markov Random Field implementation for texture modelling and analysis

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Praca poświecona jest problemowi modelowania i analizy obrazów zawierających tekstury, jednemu z trudniejszych zagadnień w dziedzinie analizy obrazu. W pracy przedstawiono metodę losowych pól Markowa jako alternatywą dla innych metod, np. metody macierzy zdarzeń. Przedstawiono model matematyczny metody oraz sposoby estymacji parametrów losowych pól Markowa: metodą minimalizacji funkcji wiarogodności oraz metodą histogramów. Przedstawiono przykład estymacji parametrów MRF oraz cech statystycznych dla tekstur syntetycznych oraz wykazano przewagą parametrów MRF wykorzystywanych do analizy badanych tekstur. Pokazano również przykład estymacji parametrów MRF dla tekstur pochodzących z zastosowań medycznych. Uzasadniono przydatność tych parametrów do opisu przykładowych tekstur. W dyskusji przedstawiono kierunki dalszych badań.

EN

The issue of image feature selection for textured image modelling and analysis is addressed in this paper. It is pointed out that the popular coocurrence matrix statistical method of feature extraction may not be the most efficient one for this task. Usefulness of Random Markov Field parameters as image features is postulated and investigated by means of numerical analysis. It is found out that MRF parameters can be useful for image modelling provided they are estimated in an image window of a properly large size. For MRF parameter estimation, the histogramming method and its modification are presented as an alternative to maximum likelihood estimation. The histogramming method requires much less computing time and provides MRF parameter values of sufficient accuracy. The parameter estimation results obtained for sample artificial and biomedical images are also presented and the topics for future research are addressed.

Słowa kluczowe

PL

losowe pola Markowa; MRF; analiza tekstury; analiza obrazów; metoda histogramów; estymacja parametrów MRF

EN

Markov random field; MRF; texture analysis; image analysis; histogramming method; MRF parameter estimation

• Wydawca: Politechnika Łódzka, Instytut Elektroniki
• Czasopismo: Elektronika : prace naukowe
• Rocznik: 1998
• Tom: nr 3
• Strony: 7--17
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz.

Twórcy

autor

Strzelecki M.

autor

Materka A.

• Politechnika Łódzka, Instytut Elektroniki