Fault diagnosis of analog circuits using evolutionary algorithms

• Autorzy: Korzybski M.

Warianty tytułu

PL

Opracowanie metod diagnostyki układów elektronicznych z wykorzystaniem technik ewolucyjnych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

In this paper new methods for detection, location and identification of multiple faults in linear and nonlinear analog circuits are described. Also a method for finding an optimal set of the test nodes for soft fault diagnosis in linear and nonlinear DC circuits is developed. The methods are based on the node approach and two variants of the evolutionary computing: the genetic algorithms and the gene expression programming.

PL

W pracy zostały przedstawione opracowane przez autora metody diagnostyki analogowych układów elektronicznych przeznaczone dla uszkodzeń parametrycznych, wykorzystujące ewolucyjne metody obliczeniowe. 1. Metoda detekcji, lokalizacji oraz identyfikacji wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych dla liniowych i nieliniowych obwodów DC oraz obwodów AC wykorzystująca w procesie detekcji i lokalizacji koncepcje programowania liniowego, a w procesie identyfikacji algorytmy genetyczne. 2. Metoda optymalizacji zbioru węzłów testowych dla diagnostyki uszkodzeń parametrycznych wykorzystująca algorytmu genetyczne. 3. Słownikowa metoda detekcji, lokalizacji oraz identyfikacji wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych dla liniowych i nieliniowych obwodów DC oraz obwodów AC wykorzystująca w procesie tworzenia słownika ewolucyjny algorytm: gene expression programming. Efektywność wszystkich metod została zweryfikowana w zamieszczonych w pracy przykładach.

Słowa kluczowe

EN

fault diagnosis; diagnosis of analog circuits; linear DC circuits; nonlinear DC circuits; AC circuits; genetic algorithms; evolutionary algorithms; gene expression programming

PL

diagnostyka uszkodzeń; diagnostyka układów elektronicznych; liniowe obwody DC; nieliniowe obwody DC; obwody AC; algorytmy genetyczne; algorytmy ewolucyjne; programowanie ekspresji genu

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 2008
• Tom: z. 113
• Strony: 69--74
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz.

Twórcy

autor

Korzybski M.

• Technical University of Łódź, Institute of Circuit Theory, Measurement Science and Materials Science

Bibliografia

• [1] Tadeusiewicz M., Hałgas S.: An algorithm for multiple fault diagnosis in analog circuits. International Journal of Circuit Theory and Applications 2006; 34, 607-615.
• [2] Tadeusiewicz M., Hałgas S., Korzybski M.: An algorithm for soft-fault diagnosis of linear and nonlinear circuits. IEEE Transactions on Circuits and Systems-I: Fundamental Theory and Applications 2002; 49, 1648-1653.
• [3] Ferreira C: Gene expression Programming: a new adaptive algorithm for solving problem. Complex Systems 2001; 13 (2), 87-129.