Pomiary parametrów termicznych monolitycznego stabilizatora napięcia MAA723

• Autorzy: Górecki K. , Zarębski J. , Piotrowicz M.

Warianty tytułu

EN

Measurements of the thermal parameters of the monolithic voltage regulator MAA723

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł dotyczy pomiarów parametrów termicznych monolitycznego stabilizatora napięcia o działaniu ciągłym MAA723. Zaproponowano sposób realizacji pomiarów metodą elektryczną oraz pirometryczną. Zbadano wpływ warunków polaryzacji rozważanego układu scalonego na jego rezystancję termiczną. Oceniono także wpływ, niezbędnej do przeprowadzania pomiarów parametrów termicznych metodą pirometryczną, obróbki mechanicznej obudowy na wartość tych parametrów.

EN

This paper deals with the problem of measurements of the monolithic voltage regulator MAA723. The known electrical and optical methods of measurements of the thermal resistance of any device have been adopted to the considered IC. Some aspects - the influence of the bias operation condition and the black painting of the tested device on the obtained results of measurements have been investigated.

Słowa kluczowe

PL

elektronika morska; stabilizator napięcia

EN

marine electronic; voltage regulator

• Wydawca: Wydawnictwo Uniwersytetu Morskiego w Gdyni
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Akademii Morskiej w Gdyni
• Rocznik: 2004
• Tom: nr 53
• Strony: 121--128
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys.

Twórcy

autor

Górecki K.

• Akademia Morska w Gdyni Wydział Elektryczny Katedra Radioelektroniki Morskiej

autor

Zarębski J.

• Akademia Morska w Gdyni Wydział Elektryczny Katedra Radioelektroniki Morskiej

autor

Piotrowicz M.

Bibliografia

• 1. Nowakowski A., Badanie procesów termicznych w przyrządach półprzewodnikowych, Zeszyty Naukowe Politechniki Gdańskiej, nr 389, Elektronika LX, 1984.
• 2. Napieralski A., Komputerowe projektowanie układów półprzewodnikowych mocy ze szczególnym uwzględnieniem ich właściwości termicznych, Zeszyty Naukowe Politechniki Łódzkiej, Nr 562, Łódź 1988.
• 3. Górecki K., Zarębski J., Pomiaty rezystancji termicznej tranzystorów mocy z wykorzystaniem metodpirometrycznych. Pomiary, Automatyka, Kontrola PAK, Nr 1, 2003, s. 41.
• 4. Górecki K., Zarębski J., Piotrowicz M., Pomiary parametrów termicznych bipolarnego tranzystora małej mocy, „Mikroelektronika i Informatyka", nr 3, 2003, s. 55.
• 5. Materiał Emissivity Properties. www.electro-optical.com
• 6. Borkowski A., Zasilanie urządzeń elektronicznych, WKŁ, Warszawa 1990.
• 7. Oettinger F.F., Blackburn D.L., Semiconductor Measurement Technology: Thermal Resistance Measurements, U.S. Department of Commerce, NIST/SP-400/86, 1990.
• 8. Górecki K., Zarębski J., Badanie charaktetystyk termometrycznych elementów półprzewodnikowych ze złączem p-n, „Metrologia i Systemy Pomiarowe", nr 4, 2001, s. 397.
• 9. Górecki K., Zarębski J., System mikrokomputerowy do pomiaru parametrów termicznych elementów półprzewodnikowych i układów scalonych, „Metrologia i Systemy Pomiarowe", nr 4, 2001, s. 379.