PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Wpływ temperatury na charakterystyki statyczne diod Schottky'ego mocy

Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Temperature influence on d.c. characteristics of the Schottky power diodes
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono wyniki pomiarów ilustrujących wpływ temperatury na charakterystyki statyczne diod mocy. Porównano zarówno izotermiczne, jak i nieizotermiczne charakterystyki diod Schottky'ego, wykonanych w tradycyjnej technologii krzemowej oraz w nowoczesnej technologii bazującej na węgliku krzemu. Pomierzone dla zakresu zaporowego charakterystyki diod Schottky'ego porównano także z charakterystykami katalogowymi. Wyznaczono wartości wybranych parametrów elektrycznych.
EN
In this paper the influence of the temperature on d.c. characteristics of the Schottky diodes has been investigated. The characteristics of the silicon Schottky diode and silicon carbide (SiC) Schottky diodes were measured at the broad range of the ambient temperature. Measured characteristics in the reverse range have been compared with the catalog's characteristics. The parameter values of the Schottky diodes were extracted.
Rocznik
Tom
Strony
66--75
Opis fizyczny
Bibliogr. 24 poz., rys., tab.
Twórcy
  • Akademia Morska w Gdyni Wydział Elektryczny Katedra Radioelektroniki Morskiej
Bibliografia
  • 1. Shur M., Introduction to Electronic Devices, John Wiley & Sons Inc., 1996.
  • 2. Benda V., Gowar J., Grant D.A., Power Semiconductor Devices - Theory and Applications, John Wiley & Sons Ltd., 1999.
  • 3. Kapels H., Rupp R., Lorenz L., Zverev I., SiC Schottky Diodes: A Milestone Hard Switching Applications, PCIM 2001.
  • 4. Chilukuri R.K., BaligaB.J., High Voltage Ni/4H-SiCSchottky Rectifters, IEEE 1999, pp. 161-164.
  • 5. http://www.onsemi.com/site/products/MBR20200CT
  • 6. http://www.darnell.com: Elasser A.. Kheraluwala M.. Ghezzo M., A Comparative Evaluation of Silicon Carbide and Silicon Diodes. 1999.
  • 7. Stepancik F., Silicon Carbide Schottky Diodę - Physical Properties and Practical Experiences. International Conference Electrical Drives and Power Electronics, 2003, pp. 322-325.
  • 8. Casady J.B., Johnson R.W., Status of Silicon Carbide (SiC) as a Wide-Bandgap Semiconductor for High-Temperature Applications: a Review. Solid-State Electronics, vol. 39, no. 10, 1996, pp. 1409-1422.
  • 9. Schoen K.J., Woodall J.M., Cooper J.A., Jr., Melloch M.R., Design Considerations and Experimental Analysis of High-Voltage SiC Schottky Barrier Rectifters, IEEE Transactions on Electron Devices, vol. 45, no. 7, July 1998.
  • 10. Johnsen CM. et.al., Recent Progress and Current Issues in SiC Semiconductor Devices for Power Applications. IEE Proc.-Circ. Dev. Syst., vol 148, no 2, April 2001, pp. 101-108.
  • 11. http://www.infineon.com
  • 12. http://www.cree.com
  • 13. http://www.advancedpower.com
  • 14. Zarębski J., Modelowanie, symulacja i pomiaiy przebiegów elektrotermicznych w elementach półprzewodnikowych i układach elektronicznych, Prace Naukowe Wyższej Szkoły Morskiej w Gdyni, Gdynia 1996.
  • 15. Klamka J., SiC - Półprzewodnik do Przyrządów Pracujących w Podwyższonej Temperaturze, „Elektronizacja" 2/2003.
  • 16. http://www.infineon.eom/cmc_upload/documents/010/3288/SDP_B_Tl0S30_1.1 .pdf
  • 17. http://www.infineon.eom/cmc_upload/documents/010/1342/SDP_B_T06S60_2.0.pdf
  • 18. http://www.fairchildsemi.com/ds/lN%2F 1N5817.pdf
  • 19. http://ww\v.irf.com/product-info/datasheets/data/l0ctql50.pdf
  • 20. http://www.fairchildsemi.com/ds/MB%2FMBR1045.pdf
  • 21. Kołodziejski J., Spiralski L., Stolarski E., Pomiary przyrządów półprzewodnikowych. WKŁ, Warszawa 1990.
  • 22. Dąbrowski J., Diody Schottky'ego z węglika krzemu, praca magisterska, 2003 (niepublikowana).
  • 23. Cheung S.K., Cheung N.W., Extraction of Schottky Diodę Parameters from Forward Current--Voltage Characteristics, Appl. Phys. Lett. 49 (2), July 1986, pp. 85-87.
  • 24. Kolendo A., Sochacki M., Szmidt J., Werbowy A., Parametiy diod Schottky'ego Pt/4H-S Krajowa Konferencja Elektroniki, Kołobrzeg 2002, s. 759-764.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWM6-0021-0038
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.