Oscillations of the work function for thin metal layers

• Autorzy: Chrzanowski J. , Kravtsov Y. A.

Warianty tytułu

PL

Oscylacje pracy wyjścia dla cienkich warstw metalicznych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The nonlocal potential and the nearest neighbor approximation (NNA) is used to obtain a simple analytical equation for the work function. In contrast to earlier approaches to the problem, the present treatment does not involve any extra coefficients. The work function is exactly defined function of the electron density n and screening parameter ks. What is more, the presented treatment allows to calculate changes of work function when the physical dimensions of metallic sample reduces to nanoscale.

PL

Nielokalny potencjał oraz przybliżenie "najbliższego sąsiada" (NNA) zostało wykorzystane do uzyskania prostego analitycznego wyrażenia na pracę wyjścia. W odróżnieniu od wcześniejszych metod prezentowany model nie zawiera żadnych dodatkowych parametrów. Praca wyjścia jest dokładnie zdefiniowaną funkcją gęstości elektronów n oraz parametru ekranowania ks. Co więcej, zaprezentowany model pozwala obliczyć zmiany pracy wyjścia, gdy rozmiary metalowej próbki redukują się do nanoskali.

Słowa kluczowe

EN

nonlocal potential; convolution; screening parameter

PL

nielokalny potencjał; splot; parametr ekranowania

• Wydawca: Wydawnictwo Naukowe Akademii Morskiej w Szczecinie
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe / Akademia Morska w Szczecinie
• Rocznik: 2011
• Tom: nr 26 (98)
• Strony: 15--20
• Opis fizyczny: Bibliogr. 31 poz., rys.

Twórcy

autor

Chrzanowski J.

autor

Kravtsov Y. A.

• Maritime University of Szczecin, Faculty of Maritime Engineering, Department of Physics Akademia Morska w Szczecinie, Wydział Mechaniczny, Katedra Fizyki 70-500 Szczecin, ul. Wały Chrobrego 1–2,

Bibliografia

• 1. YOFFE A.D.: Adv. Phys. 42 (1993) 173.
• 2. GAVIOLI L., KIMBERLIN K.R., TRINGIDES M.C., WENDELKEN J.F., ZHANG Z.: Phys. Rev. Lett. 82 (1999) 129.
• 3. HUPALO M., KREMMER S., YEH V., BERBIL-BAUTISTA L., TRINGIDES M.C.: Surf. Sci. 493 (2001) 526.
• 4. SCHULTE F.K.: Surf. Sci. 55 (1976) 427.
• 5. KOHN W., SHAM L.J.: Phys. Rev. A 140 (1965) 1133.
• 6. FEIBELMAN P.J.: Phys. Rev. B 27 (1983) 1991.
• 7. FEIBELMAN P.J., HAMANN D.R.: Phys Rev. B 29 (1984) 6463.
• 8. WOJCIECHOWSKI K.F., BOGDANÓW H.: Surf. Sci. 397 (1998) 53.
• 9. KIEJNA A., PEISERT J., SCHAROCH P.: Surf. Sci. 432 (1999) 54.
• 10. FEIBELMAN P.J.: Phys. Rev. B 65 (2002) 129902.
• 11. KRESSE G., FUTRHMÜLLER J.: Phys. Rev. B 54 (1996) 1169.
• 12. LIEBSCH A.: Phys. Rev. B 40 (1989) 3421.
• 13. ISHIDA H., LIEBISCH A.: Phys. Rev. B 57 (1998) 12550.
• 14. SMITH A.R., CHAO K.J., NIU Q., SHIH C.K.: Science 273 (1996) 226.
• 15. EALET B., GILLET E.: Surf. Sci. 281 (1993) 91.
• 16. BLAISE G., NOURTIER A.: Surf. Sci. 90 (1979) 495.
• 17. SMOLUCHOWSKI R.: Phys. Rev. 60 (1941) 661.
• 18. ISHIDA H.: Phys. Rev. B 46 (1992) 7153.
• 19. WOLTER H.: Surf. Sci. 298 (1993) 173.
• 20. STUMPF R., SCHEFFLER M.: Phys. Rev. B 53 (1996) 4958.
• 21. PAGGEL J.J., MILLER T., CHIANG T.C.: Phys.Rev. Lett.81 (1998) 5632.
• 22. PAGGEL J.J., WEI C.M., CHOU M.Y., LUH D.A., MILLER T., CHIANG T.C.: Phys.Rev. B 66, (2002) 233403.
• 23. KIM J., QIN S., YAO W., NIU Q., CHOU M.Y., SHIH CH.-KANG: PNAS vol. 107 no. 29 (2010).12761.
• 24. KIM S., KIM J., HAN J.Y., SEO J.M., LEE C.K., HONG S.C.: Surf. Sci. 453 (2000) 47.
• 25. CHRZANOWSKI J., KRAVTSOV Y.: Physics Letters A 375 (2011), 671–675.
• 26. AGRANOVICH V.M., GINZBURG V.L.: Spatial Dispersion in Crystal Optics and the Theory of Excitons, Wiley 1966.
• 27. BRACEWELL R.: Fourier Transform and its Application. Mc Graw-Hill, New York 2000.
• 28. ASHCROFT N.W., MERMIN N.D.: Solid State Physics. New York. Holt, Rinehart and Winston 1976.
• 29. CHRZANOWSKI J.: Proc.SPIE 4356 (2001) 425.
• 30. CHRZANOWSKI J.: Proc.SPIE 5259 (2002) 30.
• 31. CHRZANOWSKI J.: Optica Applicata, Vol.XXXIII, No. 2–3, 2003.