Topograficzna ocena powierzchni w porównaniu z oceną dwuwymiarową

• Autorzy: Wieczorowski M. , Cellary A. , Chajda J.

Warianty tytułu

EN

Topographical Assessment of Surface in Comparison with Two Dimensional Assessment

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono podstawowe założenia analizy topografii powierzchni. Omówiono sposób doboru powierzchni odniesienia dla powierzchni nominalnie płaskich oraz zakrzywionych, a także krótko scharakteryzowano parametry i funkcje stosowane w ocenie stereometrycznej. Pokazano różnice występujące pomiędzy wybranymi parametrami w ujęciu 2D i ich odpowiednikami w ujęciu 3D. Istotność tych różnic nie pozwala na właściwą ocenę powierzchni analizowanej na podstawie profilu.

EN

The paper briefly presents basic assumptions of surface topography analysis. A procedure of choosing reference tables for both nominally flat as well as nominally curved surfaces is shown. Besides, parameters and functions used in three dimensional analysis are shortly characterized. The differences between some of the parameters in two and three dimensional approaches are described. The significance of these differences makes it impossible to properly assess a surface from a single profile only.

Słowa kluczowe

PL

topografia; ocena parametryczna; analiza porównawcza

EN

topography; parametric assessment; comparative analysis

• Wydawca: Dział Wydawnictw Wyższej Szkoły Morskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe / Wyższa Szkoła Morska w Szczecinie
• Rocznik: 2003
• Tom: nr 68
• Strony: 417--426
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., rys.

Twórcy

autor

Wieczorowski M.

autor

Cellary A.

autor

Chajda J.

Bibliografia

• 1. Chajda J., Cellary A., Wieczorowski M.: A neccessity Of three-dimernsional surface stereometry characterisation, but by means of laser optical probe. Proc. XIII IMEKO World Congress, Turyn, Włochy, 1994, p. 1748-1753.
• 2. Dong W.P., Mainsah E., Stout K.J.: Reference planes for the assessment of surface roughness in three dimensions. Int. J. of Machine Tools & Manuf., 35, p. 263-271, 1995.
• 3. Handzel-Powierża Z, Klimczak T., Bartoszewicz A., Polijaniuk A.: Próba analizy różnic między rozkładem amplitudy mikrogeometrii powierzchni w ujęciu dwuwymiarowym i trójwymiarowym. Materiały Konferencji: Metrologiczne problemy w technikach wytwarzania. Koszalin - Mielno 1991,
• s. 126-135.
• 4. Klimczak T.: Origins, magnitude and statistical significance of differences between roughness parameters of two- and three-dimensional characteristics, Wear, 156, 1992, str. 19-31.
• 5. Nowicki B., Kaczmarek J.: Investigations of the surface roughness range, Annals of the CIRP, 30, 1981, p. 493-497.
• 6. Pawlus P., Jabłoński J.: Differences Between Two - and Three - Dimensional Cylinder Surface Characterisation. Proceedings of MeaSuremenť97 Int. Conf. On Measurement, Smolenice 1997, p. 132-135.
• 7. Sayles R.C., Thomas T.R.: Mapping a small area of a surface. Journal of Physics E: Scientific Instruments, 9, 1976, p. 855—861.
• 8. Stout et al.: The development of methods for the characterisation of roughness in three-dimensions. Interim Report No.2 for EC Contract No.3374/1/0/170/90/2, The University of Birmingham i Ľ Ecole Centrale de Lyon 1993.
• 9. Tsukada T., Kanada Evaluation of two- and three- dimensional Surface roughness profiles and their confidence. Wear, 109, 1986, p. 69—78.
• 10. Vorburger T. V Methods for characterizing surface topography. Tutorials in Optics, ed. D.T.Moore, Washington 1992.
• 11. Whitehouse D.J.: A parameter rash - is there a cure?, Wear, 83, 1982, p. 75-78.
• 12. Wieczorowski M., Cellary A., Chajda J.: Parameters for three dimensional surface texture character analysis. Proc. III Int. Symp. on Measurement Technology and Intelligent Instruments. Hayama, Japan 1996, p. 209—216.
• 13. Wieczorowski M.: Stereometryczna ocena porównawcza powierzchni przy zastosowaniu różnych układów odniesienia profilometrów. Rozprawa doktorska, Politechnika Poznańska, Poznań 1996.